EnglishIl metodo XRD per l’osservazione di fenomeni alla scala nanometrica: comportamento a creep e sua propagazione / BERTI G; NICOLETTA A; DE MARCO F; TONTI A; AUGUGLIARO G; PINCIROLI D. - (2008), pp. 629-639. ((Intervento presentato al convegno Sicurezza e Affidabilita' delle Attrezzature a Pressione (SAFAP) tenutosi a Cagliari.
| Titolo: | Il metodo XRD per l’osservazione di fenomeni alla scala nanometrica: comportamento a creep e sua propagazione |
| Autori: | |
| Anno del prodotto: | 2008 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11568/118679 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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