Development of Deep N-Well MAPS in a 130 nm CMOS Technology and Beam Test Results on a 4k-Pixel Matrix with Digital Sparsified Readout
RIZZO, GIULIANA;BATIGNANI, GIOVANNI;BETTARINI, STEFANO;CALDERINI, GIOVANNI;DELL'ORSO, MAURO;FORTI, FRANCESCO;GIORGI, MARCELLO;MARCHIORI, GIOVANNI;NERI, NICOLA;PAOLONI, EUGENIO;
2009-01-01
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