Artifacts identification in apertureless near-field optical microscopy / P. G. GUCCIARDI; G. BACHELIER; M. ALLEGRINI; J. AHN; M. HONG; S. CHANG; W. JHE; S.-C. HONG; S. H. BAEK. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 101(2007), pp. 064303-1-064303-8.

Artifacts identification in apertureless near-field optical microscopy

2007

Gucciardi, P. G.; Bachelier, G.; Allegrini, M.; Ahn, J.; Hong, M.; Chang, S.; Jhe, W.; Hong, S. C.; Baek, S. H.
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