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We report measurements of the branching fraction and CP asymmetry in B0→π0π0 decays reconstructed at Belle II in an electron-positron collision sample containing 198×10^6 BB pairs. We measure a branching fraction B(B0→π0π0) = (1.38 ± 0.27 ± 0.22)×10^-6 and a CP asymmetry Acp(B0→π0π0) = 0.14 ± 0.46 ± 0.07, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.
Measurement of the branching fraction and CP asymmetry of B0→π0π0 decays using 198×10^6 BB pairs in Belle II data
Abudinén, F.;Adachi, I.;Adamczyk, K.;Aggarwal, L.;Ahmed, H.;Aihara, H.;Akopov, N.;Aloisio, A.;Anh Ky, N.;Asner, D. M.;Atmacan, H.;Aushev, T.;Aushev, V.;Bae, H.;Bahinipati, S.;Bambade, P.;Banerjee, Sw.;Bansal, S.;Barrett, M.;Baudot, J.;Bauer, M.;Baur, A.;Beaubien, A.;Becker, J.;Behera, P. K.;Bennett, J. V.;Bernieri, E.;Bernlochner, F. U.;Bertacchi, V.;Bertemes, M.;Bertholet, E.;Bessner, M.;Bettarini, S.;Bhardwaj, V.;Bhuyan, B.;Bianchi, F.;Bilka, T.;Bilokin, S.;Biswas, D.;Bodrov, D.;Bolz, A.;Borah, J.;Bozek, A.;Bračko, M.;Branchini, P.;Briere, R. A.;Browder, T. E.;Budano, A.;Bussino, S.;Campajola, M.;Cao, L.;Casarosa, G.;Cecchi, C.;Chang, M. -C.;Chang, P.;Cheaib, R.;Cheema, P.;Chekelian, V.;Chen, C.;Chen, Y. Q.;Cheon, B. G.;Chilikin, K.;Chirapatpimol, K.;Cho, H. -E.;Cho, K.;Cho, S. -J.;Choi, S. -K.;Choudhury, S.;Cinabro, D.;Cochran, J.;Corona, L.;Cunliffe, S.;Das, S.;Dattola, F.;De La Cruz-Burelo, E.;De La Motte, S. A.;de Marino, G.;De Nardo, G.;De Nuccio, M.;De Pietro, G.;de Sangro, R.;Destefanis, M.;Dey, S.;De Yta-Hernandez, A.;Dhamija, R.;Di Canto, A.;Di Capua, F.;Doležal, Z.;Domínguez Jiménez, I.;Dong, T. V.;Dorigo, M.;Dort, K.;Dossett, D.;Dreyer, S.;Dubey, S.;Dujany, G.;Ecker, P.;Eliachevitch, M.;Feichtinger, P.;Ferber, T.;Ferlewicz, D.;Fillinger, T.;Finck, C.;Finocchiaro, G.;Fodor, A.;Forti, F.;Frey, A.;Fulsom, B. G.;Gabrielli, A.;Ganiev, E.;Garcia-Hernandez, M.;Gaudino, G.;Gaur, V.;Gellrich, A.;Ghevondyan, G.;Giordano, R.;Giri, A.;Gobbo, B.;Godang, R.;Goldenzweig, P.;Gradl, W.;Grammatico, T.;Granderath, S.;Graziani, E.;Greenwald, D.;Gruberová, Z.;Gu, T.;Guan, Y.;Gudkova, K.;Guilliams, J.;Halder, S.;Hara, T.;Hayasaka, K.;Hayashii, H.;Hazra, S.;Hearty, C.;Hedges, M. T.;Heredia de la Cruz, I.;Hernández Villanueva, M.;Hershenhorn, A.;Higuchi, T.;Hill, E. C.;Hohmann, M.;Hsu, C. -L.;Humair, T.;Iijima, T.;Inami, K.;Inguglia, G.;Ipsita, N.;Ishikawa, A.;Ito, S.;Itoh, R.;Iwasaki, M.;Jackson, P.;Jacobs, W. W.;Jaffe, D. E.;Jang, E. -J.;Ji, Q. P.;Jia, S.;Jin, Y.;Joo, K. K.;Junkerkalefeld, H.;Kakuno, H.;Kaleta, M.;Kaliyar, A. B.;Kandra, J.;Kang, K. H.;Kang, S.;Karl, R.;Karyan, G.;Kawasaki, T.;Kiesling, C.;Kim, C. -H.;Kim, D. Y.;Kim, K. -H.;Kim, Y. -K.;Kindo, H.;Kinoshita, K.;Kodyš, P.;Koga, T.;Kohani, S.;Kojima, K.;Konno, T.;Korobov, A.;Korpar, S.;Kovalenko, E.;Kowalewski, R.;Kraetzschmar, T. M. G.;Križan, P.;Krokovny, P.;Kuhr, T.;Kumar, J.;Kumar, R.;Kumara, K.;Kunigo, T.;Kuzmin, A.;Kwon, Y. -J.;Lacaprara, S.;Lam, T.;Lanceri, L.;Lange, J. S.;Laurenza, M.;Lautenbach, K.;Leboucher, R.;Le Diberder, F. R.;Leitl, P.;Li, C.;Li, L. K.;Li, Y. B.;Libby, J.;Lieret, K.;Liptak, Z.;Liu, Q. Y.;Liu, Z. Q.;Liventsev, D.;Longo, S.;Lozar, A.;Lueck, T.;Lyu, C.;Maggiora, M.;Maharana, S. P.;Maiti, R.;Maity, S.;Manfredi, R.;Manoni, E.;Manthei, A. C.;Mantovano, M.;Marcello, S.;Marinas, C.;Martel, L.;Martellini, C.;Martini, A.;Martinov, T.;Massaccesi, L.;Matsuda, T.;Matsuoka, K.;Matvienko, D.;Maurya, S. K.;McKenna, J. A.;Meier, F.;Merola, M.;Metzner, F.;Milesi, M.;Miller, C.;Miyabayashi, K.;Miyake, H.;Mizuk, R.;Mohanty, G. B.;Molina-Gonzalez, N.;Moneta, S.;Moser, H. -G.;Mrvar, M.;Mussa, R.;Nakamura, I.;Nakamura, K. R.;Nakao, M.;Nakayama, H.;Nakazawa, Y.;Narimani Charan, A.;Naruki, M.;Narwal, D.;Natkaniec, Z.;Natochii, A.;Nayak, L.;Nayak, M.;Nazaryan, G.;Niebuhr, C.;Nisar, N. K.;Nishida, S.;Ogawa, S.;Ono, H.;Onuki, Y.;Oskin, P.;Pakhlov, P.;Pakhlova, G.;Paladino, A.;Panta, A.;Paoloni, E.;Pardi, S.;Parham, K.;Park, H.;Park, J.;Park, S. -H.;Paschen, B.;Passeri, A.;Patra, S.;Paul, S.;Pedlar, T. K.;Peruzzi, I.;Peschke, R.;Pestotnik, R.;Pham, F.;Piccolo, M.;Piilonen, L. E.;Pinna Angioni, G.;Podesta-Lerma, P. L. M.;Podobnik, T.;Pokharel, S.;Polat, L.;Praz, C.;Prell, S.;Prencipe, E.;Prim, M. T.;Purwar, H.;Rad, N.;Rados, P.;Raeuber, G.;Raiz, S.;Ramirez Morales, A.;Reif, M.;Reiter, S.;Remnev, M.;Ripp-Baudot, I.;Rizzo, G.;Rizzuto, L. B.;Robertson, S. H.;Rodríguez Pérez, D.;Roney, J. M.;Rostomyan, A.;Rout, N.;Russo, G.;Sanders, D. A.;Sandilya, S.;Sangal, A.;Santelj, L.;Sato, Y.;Savinov, V.;Scavino, B.;Schueler, J.;Schwanda, C.;Schwartz, A. J.;Seino, Y.;Selce, A.;Senyo, K.;Serrano, J.;Sevior, M. E.;Sfienti, C.;Sharma, C.;Shen, C. P.;Shi, X. D.;Shillington, T.;Shiu, J. -G.;Shwartz, B.;Sibidanov, A.;Simon, F.;Singh, J. B.;Skorupa, J.;Sobie, R. J.;Soffer, A.;Sokolov, A.;Solovieva, E.;Spataro, S.;Spruck, B.;Starič, M.;Stefkova, S.;Stottler, Z. S.;Stroili, R.;Strube, J.;Sue, Y.;Sumihama, M.;Sumisawa, K.;Sutcliffe, W.;Suzuki, S. Y.;Svidras, H.;Takizawa, M.;Tamponi, U.;Tanida, K.;Tanigawa, H.;Tenchini, F.;Thaller, A.;Tiwary, R.;Tonelli, D.;Torassa, E.;Toutounji, N.;Trabelsi, K.;Tsaklidis, I.;Uchida, M.;Ueda, I.;Uematsu, Y.;Uglov, T.;Unger, K.;Unno, Y.;Uno, K.;Uno, S.;Urquijo, P.;Ushiroda, Y.;Vahsen, S. E.;van Tonder, R.;Varner, G. S.;Varvell, K. E.;Vinokurova, A.;Vismaya, V. S.;Vitale, L.;Vobbilisetti, V.;Vossen, A.;Wakeling, H. M.;Wallner, S.;Wang, E.;Wang, M. -Z.;Wang, X. L.;Warburton, A.;Watanabe, M.;Watanuki, S.;Welsch, M.;Wessel, C.;Wiechczynski, J.;Won, E.;Xu, X. P.;Yabsley, B. D.;Yamada, S.;Yan, W.;Yang, S. B.;Ye, H.;Yelton, J.;Yin, J. H.;Yook, Y. M.;Yoshihara, K.;Yuan, C. Z.;Yusa, Y.;Zani, L.;Zhai, Y.;Zhang, Y.;Zhilich, V.;Zhou, Q. D.;Zhou, X. Y.;Zhukova, V. I.;Žlebčík, R.
2023-01-01
Abstract
We report measurements of the branching fraction and CP asymmetry in B0→π0π0 decays reconstructed at Belle II in an electron-positron collision sample containing 198×10^6 BB pairs. We measure a branching fraction B(B0→π0π0) = (1.38 ± 0.27 ± 0.22)×10^-6 and a CP asymmetry Acp(B0→π0π0) = 0.14 ± 0.46 ± 0.07, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.
Abudinén, F.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aggarwal, L.; Ahmed, H.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Anh Ky, N.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Aushev, V.; Bae, H.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Bansal, S.; Barrett, M.; Baudot, J.; Bauer, M.; Baur, A.; Beaubien, A.; Becker, J.; Behera, P. K.; Bennett, J. V.; Bernieri, E.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Bilokin, S.; Biswas, D.; Bodrov, D.; Bolz, A.; Borah, J.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Chang, M. -C.; Chang, P.; Cheaib, R.; Cheema, P.; Chekelian, V.; Chen, C.; Chen, Y. Q.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cochran, J.; Corona, L.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dattola, F.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; de Marino, G.; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; De Yta-Hernandez, A.; Dhamija, R.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Doležal, Z.; Domínguez Jiménez, I.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dort, K.; Dossett, D.; Dreyer, S.; Dubey, S.; Dujany, G.; Ecker, P.; Eliachevitch, M.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Giordano, R.; Giri, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Grammatico, T.; Granderath, S.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gruberová, Z.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Guilliams, J.; Halder, S.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; Hedges, M. T.; Heredia de la Cruz, I.; Hernández Villanueva, M.; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hohmann, M.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Ito, S.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E. -J.; Ji, Q. P.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kakuno, H.; Kaleta, M.; Kaliyar, A. B.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Kang, S.; Karl, R.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. -K.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Kraetzschmar, T. M. G.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lam, T.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lautenbach, K.; Leboucher, R.; Le Diberder, F. R.; Leitl, P.; Li, C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Libby, J.; Lieret, K.; Liptak, Z.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lozar, A.; Lueck, T.; Lyu, C.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Maity, S.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Manthei, A. C.; Mantovano, M.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martel, L.; Martellini, C.; Martini, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Matsuda, T.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Mckenna, J. A.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miller, C.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Molina-Gonzalez, N.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakamura, I.; Nakamura, K. R.; Nakao, M.; Nakayama, H.; Nakazawa, Y.; Narimani Charan, A.; Naruki, M.; Narwal, D.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Niebuhr, C.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Paladino, A.; Panta, A.; Paoloni, E.; Pardi, S.; Parham, K.; Park, H.; Park, J.; Park, S. -H.; Paschen, B.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Peruzzi, I.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Pham, F.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Pinna Angioni, G.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Polat, L.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purwar, H.; Rad, N.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Ramirez Morales, A.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Rizzuto, L. B.; Robertson, S. H.; Rodríguez Pérez, D.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sato, Y.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sevior, M. E.; Sfienti, C.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shiu, J. -G.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stefkova, S.; Stottler, Z. S.; Stroili, R.; Strube, J.; Sue, Y.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sutcliffe, W.; Suzuki, S. Y.; Svidras, H.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tanigawa, H.; Tenchini, F.; Thaller, A.; Tiwary, R.; Tonelli, D.; Torassa, E.; Toutounji, N.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uematsu, Y.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; van Tonder, R.; Varner, G. S.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Vossen, A.; Wakeling, H. M.; Wallner, S.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, X. L.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Welsch, M.; Wessel, C.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Xu, X. P.; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yook, Y. M.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhai, Y.; Zhang, Y.; Zhilich, V.; Zhou, Q. D.; Zhou, X. Y.; Zhukova, V. I.; Žlebčík, R.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
