Modeling the gate current 1/f noise and its application to advanced CMOS devices

Crupi, F.; Magnone, P.; Iannaccone, Giuseppe; Giusi, G.; Pace, C.; Simoen, E.; Claeys, C.

doi:10.1109/ICSICT.2008.4734564

Modeling the gate current 1/f noise and its application to advanced CMOS devices / F. CRUPI; P. MAGNONE; IANNACCONE G; G. GIUSI; C. PACE; E. SIMOEN; C. CLAEYS. - (2008), pp. 420-423. ((Intervento presentato al convegno 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology tenutosi a inglese nel 20-23 ottobre 2008.

Titolo:	Modeling the gate current 1/f noise and its application to advanced CMOS devices
Autori:	F. CRUPI P. MAGNONE IANNACCONE, GIUSEPPE G. GIUSI C. PACE E. SIMOEN C. CLAEYS mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno del prodotto:	2008
Handle:	http://hdl.handle.net/11568/126485
ISBN:	9781424421855
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

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