RESISTANCE OF SI-P SAMPLES IN THE TEMPERATURE-RANGE 0.4-5.0K

Beverini, Nicolo'; Boragno, C; Vandenbrandt, B; Maggiani, F; Mango, S; Olivi, L; Poggiani, Rosa; Torelli, Gabriele; Valbusa, U.

doi:10.1016/0168-9002(90)91527-I

RESISTANCE OF SI-P SAMPLES IN THE TEMPERATURE-RANGE 0.4-5.0K / BEVERINI N; BORAGNO C; VANDENBRANDT B; MAGGIANI F; MANGO S; OLIVI L; POGGIANI R; TORELLI G; VALBUSA U. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 289:3(1990), pp. 532-533.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11568/12894

Autori:	BEVERINI, NICOLO' BORAGNO C VANDENBRANDT B MAGGIANI F MANGO S OLIVI L POGGIANI, ROSA TORELLI, GABRIELE VALBUSA U. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Autori:	BEVERINI N; BORAGNO C; VANDENBRANDT B; MAGGIANI F; MANGO S; OLIVI L; POGGIANI R; TORELLI G; VALBUSA U
Titolo:	RESISTANCE OF SI-P SAMPLES IN THE TEMPERATURE-RANGE 0.4-5.0K
Anno del prodotto:	1990
Digital Object Identifier (DOI):	10.1016/0168-9002(90)91527-I
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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