Measurement of time-dependent CP violation parameters in decays at Belle and Belle II

Null, Null; Abumusabh, M.; Adachi, I.; Aggarwal, A.; Ahn, Y.; Aihara, H.; Akdag, M.; Akopov, N.; Alghamdi, S.; Alhakami, M.; Althubiti, N.; Amos, K.; Angelsmark, M.; Antonioli, C.; Arai, K.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Aushev, V.; Ayad, R.; Babu, V.; Bae, H.; Baghel, N. K.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Bansal, S.; Barrett, M.; Bartl, M.; Baudot, J.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Benfratello, G. F.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Borah, J.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Brenny, N.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Callet, F.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Cao, L.; Carminati, M.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cheema, P.; Chen, L.; Cheon, B. G.; Cheshta, C.; Chetri, H.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Chutia, S.; Cochran, J.; Colorado-Caicedo, J. A.; Consigny, I.; Corona, L.; Crotte Ledesma, H.; Cuccuini, S.; Cui, J. X.; Das, S.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Marino, G.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Dhayal, R.; Di Canto, A.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Dong, X.; Thanh, D. V.; Dorigo, M.; Dujany, G.; Ecker, P.; Epifanov, D.; Eppelt, J.; Farkas, R.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Gagneja, P.; Ganiev, E.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gautam, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironella Gironell, P.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Haide, I.; Han, Y.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; Hedges, M. T.; Heidelbach, A.; Heine, G.; Heredia De La Cruz, I.; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hou, X. T.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Inami, K.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobi, D.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Q. P., Ji; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Kiesling, C.; Kim, C.; Kim, D. Y.; Kim, H.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulii, Y.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kurokawa, S.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lai, Y. -T.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lau, T. S.; Leboucher, R.; Lee, H.; Lee, M. J.; Leo, P.; Lewis, P. M.; Li, C.; L. K., Li; Q. M., Li; S. X., Li; W. Z., Li; Li, Y.; Y. B., Li; Liao, Y. P.; Libby, J.; Lin, J.; Lin, S.; Liptak, Z.; Lisovskyi, V.; Liu, C.; Liu, G.; Liu, M. H.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lozar, A.; Lueck, T.; J. L., Ma; Ma, Y.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marfoli, M.; Marinas, C.; Martens, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Maushart, M.; Mckenna, J. A.; Mediankin Gruberová, Z.; Mehta, R.; Meier, F.; Meleshko, D.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moneta, S.; Moreira De Carvalho, A. L.; Moser, H. -G.; Mudgal, N.; Muller, Th.; Murakami, H.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nakazawa, Y.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Neu, M.; N. Anh, Ky; Nishida, S.; Nomaru, R.; Ogawa, S.; Okubo, R.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, J.; Park, K.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Patra, S.; Pedlar, T. K.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Polat, L.; Prakash, A.; Prasad, V.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Privalov, S.; Prudiiev, I.; Purwar, H.; Rados, P.; Raiz, S.; Ravindran, K.; Reif, M.; Reiter, S.; Reuter, L.; Ricalde Herrmann, D.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Robertson, S. H.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Saha, S.; Salutari, L.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Santos, C.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schmitt, C.; Schmitz, J.; Schnell, G.; Schoenning, K.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sfienti, C.; Shan, W.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shimasaki, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Špenko, K.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Testa, F.; Thaller, A.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Manh, T. Tien; Trantou, F. F.; Tsaklidis, I.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Rehman, J. U.; Ushiroda, Y.; Vismaya, V. S.; Van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vinokurova, A.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Wessel, C.; X. P., Xu; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yan, W. P.; Yelton, J.; Yi, K.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yuan, J.; Yuan, L.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zeng, F.; Zeyrek, M.; Zhang, B.; Zhao, X.; Zhilich, V.; Zhou, Q. D.; Zhou, X. Y.; Zhu, L.; Žlebčík, R.

doi:10.1007/JHEP09(2026)216

We perform a measurement of time-dependent CP violation parameters in decays using a dataset of approximately 772 & times; 106 and 521 & times; 106 Upsilon(4S) decays collected by the Belle and Belle II experiments, respectively. The measured parameters for the combined dataset in the K *0(892) dominated region ( GeV/c 2) are S = 0.09 +/- 0.16 +/- 0.02 and C = -0.09 +/- 0.08 +/- 0.04. For the non-K *0(892) region ( GeV/c 2), the corresponding values are S = -0.32 +/- 0.33 +/- 0.09 and C = -0.07 +/- 0.17 +/- 0.08. The first quoted uncertainties are statistical, while the second ones are systematic. These results are consistent with Standard Model predictions and more precise than previous measurements.