CORRELATED FLUCTUATIONS AND NOISE SPECTRA OF TUNNELING AND SUBSTRATE CURRENTS BEFORE BREAKDOWN IN THIN-OXIDE MOS DEVICES

SALETTI, ROBERTO;NERI, BRUNO;
1990-01-01

1990
Saletti, Roberto; Neri, Bruno; Olivo, P; Modelli, A.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11568/173202
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 16
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 16
social impact