Caratterizzazione del modello termico di strutture laser a semiconduttore per mezzo di misure di tensione in regime transitorio / Bagnoli P; A.Piccirillo; M.Ciampa; G.Oliveti. - (1992). ((Intervento presentato al convegno I Workshop A.S.T.E.,' Controllo Termico dei Dispositivi Elettronici'.
Titolo: | Caratterizzazione del modello termico di strutture laser a semiconduttore per mezzo di misure di tensione in regime transitorio. |
Autori interni: | |
Anno del prodotto: | 1992 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11568/17411 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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