NEXAFS Depth Profiling of Surface Segregation in Block Copolymer Thin Films / Sitaraman Krishnan;Marvin Y. Paik;Christopher K. Ober;Elisa Martinelli;Giancarlo Galli;Karen E. Sohn;Edward J. Kramer;Daniel A. Fischer. - In: MACROMOLECULES. - ISSN 0024-9297. - 43(2010), pp. 4733-4743.
Autori interni: | |
Autori: | Sitaraman Krishnan;Marvin Y. Paik;Christopher K. Ober;Elisa Martinelli;Giancarlo Galli;Karen E. Sohn;Edward J. Kramer;Daniel A. Fischer |
Titolo: | NEXAFS Depth Profiling of Surface Segregation in Block Copolymer Thin Films |
Anno del prodotto: | 2010 |
Digital Object Identifier (DOI): | 10.1021/ma902866x |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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