Precision measurement of the prompt photon cross section in pp̄ collisions at s=1.8 TeV

Abe, F.; Albrow, M. G.; Amidei, D.; Antos, J.; Anway Wiese, C.; Apollinari, G.; Areti, H.; Atac, M.; Auchincloss, P.; Azfar, F.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Badgett, W.; Bailey, M. W.; Bao, J.; De Barbaro, P.; Barbaro Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Bartalini, P.; Bauer, G.; Baumann, T.; Bedeschi, F.; Behrends, S.; Belforte, S.; Gellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Benlloch, J.; Bensinger, J.; Benton, D.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Bertolucci, S.; Bhatti, A.; Biery, K.; Binkley, M.; Bird, F.; Bisello, D.; Blair, R. E; Blocker, C.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolognesi, V.; Bortoletto, D.; Boswell, C.; Boulos, T.; Brandenburg, G.; Buckley Geer, E.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon Wagner, A.; Byrum, K. L.; Cammerata, J.; Campagnari, C.; Campbell, M.; Caner, A.; Carithers, W.; Carlsmith, D.; Castro, A.; Cen, Y.; Cervelli, F.; Chapman, J.; Cheng, M. T.; Chiarelli, G.; Chikamatsu, T.; Cihangir, S.; Clark, A. G.; Cobal, M.; Contreras, M.; Conway, J.; Cooper, J.; Cordelli, M.; Crane, D.; Cunningham, J. D.; Daniels, T.; Dejongh, F.; Delchamps, S.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, Mauro; Demortier, L.; Denby, B.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dickson, M.; Donati, Simone; Drucker, R. B.; Dunn, A.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Ely, R.; Engels, E.; Eno, S.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Farhat, B.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Frautschi, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Frisch, H.; Fry, A.; Fuess, T. A.; Fukui, Y.; Funaki, S.; Gagliardi, G.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Garfinkel, A. F.; Geer, S.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giokaris, N.; Giromini, P.; Gladney, L.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Gonzalez, J.; Gordon, A.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Grassmann, H.; Grewal, A.; Grieco, G.; Groer, L.; Grosso Pilcher, C.; Haber, C.; Hahn, S. R.; Hamilton, R.; Handler, R.; Hans, R. M.; Hara, K.; Harral, B.; Harris, R. M.; Hauger, S. A.; Hauser, J.; Hawk, C.; Heinrich, J.; Cronin Hennessy, D.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hölscher, A.; Hong, S.; Houk, G.; Hu, P.; Huffman, B. T.; Hughes, R.; Hurst, P.; Huston, J.; Huth, J.; Hylen, J.; Incagli, M.; Incandela, J.; Iso, H.; Jensen, H.; Jessop, C. P.; Joshi, U.; Kadel, R. W.; Kajfasz, E.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Kardelis, D. A.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keeble, L.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Kesten, P.; Kestenbaum, D.; Keup, R. M.; Keutelian, H.; Keyvan, F.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirsch, L.; Koehn, P.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kopp, S.; Kordas, K.; Koska, W.; Kovacs, E.; Kowald, W.; Krasberg, M.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kuns, E.; Laasanen, A. T.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lecompte, T.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Limon, P.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Lockyer, N.; Loomis, C.; Long, O.; Loreti, M.; Low, E. H.; Lu, J.; Lucchesi, D.; Luchini, C. B.; Lukens, P.; Maas, P.; Maeshima, K.; Maghakian, A.; Maksimovic, P.; Mangano, M.; Mansour, J.; Mariotti, M.; Marriner, J. P.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mattingly, R.; Mcintyre, P.; Melese, P.; Menzione, A.; Meschi, E.; Michail, G.; Mikamo, S.; Miller, M.; Miller, R.; Mimashi, T.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitsushio, H.; Miyashita, S.; Morita, Y.; Moulding, S.; Mueller, J.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Musgrave, P.; Nakae, L. F.; Nakano, I.; Nelson, C.; Neuberger, D.; Newman Holmes, C.; Nodulman, L.; Ogawa, S.; S. H., Oh; Ohl, K. E.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Pagliarone, C.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Park, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Pescara, L.; Peters, M. D.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pillai, M.; Plunkett, R.; Pondrom, L.; Produit, N.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, Giovanni; Ragan, K.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Roach Bellino, M.; Robertson, W. J.; Rodrigo, T.; Romano, J.; Rosenson, L.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sansoni, A.; Scarpine, V.; Schindler, A.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schneider, O.; Sciacca, G. F.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Sganos, G.; Sgolacchia, A.; Shapiro, M.; Shaw, N. M.; Shen, Q.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Skarha, J.; Sliwa, K.; Smith, D. A.; Snider, F. D.; Song, L.; Song, T.; Spalding, J.; Spiegel, L.; Sphicas, P.; Spies, A.; Stanco, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strahl, K.; Strait, J.; Stuart, D.; Sullivan, G.; Sumorok, K.; R. L., Swartz J. r.; Takahashi, T.; Takikawa, K.; Tartarelli, F.; Taylor, W.; Teramoto, Y.; Tether, S.; Theriot, D.; Thomas, J.; Thomas, T. L.; Thun, R.; Timko, M.; Tipton, P.; Titov, A.; Tkaczyk, S.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Tonnison, J.; De Troconiz, J. F.; Tseng, J.; Turcotte, M.; Turini, N.; Uemura, N.; Ukegawa, F.; Unal, G.; Van Den Brink, S.; Vejcik, S.; Vidal, R.; Vondracek, M.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wainer, N.; Walker, R. C.; Wang, G.; Wang, J.; Wang, M. J.; Wang, Q. F.; Warburton, A.; Watts, G.; Watts, T.; Webb, R.; Wendt, C.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Westhusing, T.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkinson, R.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wolinski, J.; D. Y., Wu; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yasuoka, K.; Ye, Y.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yin, M.; Yoh, J.; Yoshida, T.; Yovanovitch, D.; Yu, I.; Yun, J. C.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zhang, L.; Zhang, S.; Zhang, W.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevLett.73.2662

Measurement

Precision measurement of the prompt photon cross section in pp̄ collisions at s=1.8 TeV

Abe, F.;Albrow, M. G.;Amidei, D.;Antos, J.;Anway Wiese, C.;Apollinari, G.;Areti, H.;Atac, M.;Auchincloss, P.;Azfar, F.;Azzi, P.;Bacchetta, N.;Badgett, W.;Bailey, M. W.;Bao, J.;De Barbaro, P.;Barbaro Galtieri, A.;Barnes, V. E.;Barnett, B. A.;Bartalini, P.;Bauer, G.;Baumann, T.;Bedeschi, F.;Behrends, S.;Belforte, S.;Gellettini, G.;Bellinger, J.;Benjamin, D.;Benlloch, J.;Bensinger, J.;Benton, D.;Beretvas, A.;Berge, J. P.;Bertolucci, S.;Bhatti, A.;Biery, K.;Binkley, M.;Bird, F.;Bisello, D.;Blair, R. E;Blocker, C.;Bodek, A.;Bokhari, W.;Bolognesi, V.;Bortoletto, D.;Boswell, C.;Boulos, T.;Brandenburg, G.;Buckley Geer, E.;Budd, H. S.;Burkett, K.;Busetto, G.;Byon Wagner, A.;Byrum, K. L.;Cammerata, J.;Campagnari, C.;Campbell, M.;Caner, A.;Carithers, W.;Carlsmith, D.;Castro, A.;Cen, Y.;Cervelli, F.;Chapman, J.;Cheng, M. T.;Chiarelli, G.;Chikamatsu, T.;Cihangir, S.;Clark, A. G.;Cobal, M.;Contreras, M.;Conway, J.;Cooper, J.;Cordelli, M.;Crane, D.;Cunningham, J. D.;Daniels, T.;Dejongh, F.;Delchamps, S.;Dell'Agnello, S.;DELL'ORSO, MAURO;Demortier, L.;Denby, B.;Deninno, M.;Derwent, P. F.;Devlin, T.;Dickson, M.;DONATI, SIMONE;Drucker, R. B.;Dunn, A.;Einsweiler, K.;Elias, J. E.;Ely, R.;Engels, E.;Eno, S.;Errede, D.;Errede, S.;Fan, Q.;Farhat, B.;Fiori, I.;Flaugher, B.;Foster, G. W.;Franklin, M.;Frautschi, M.;Freeman, J.;Friedman, J.;Frisch, H.;Fry, A.;Fuess, T. A.;Fukui, Y.;Funaki, S.;Gagliardi, G.;Galeotti, S.;Gallinaro, M.;Garfinkel, A. F.;Geer, S.;Gerdes, D. W.;Giannetti, P.;Giokaris, N.;Giromini, P.;Gladney, L.;Glenzinski, D.;Gold, M.;Gonzalez, J.;Gordon, A.;Goshaw, A. T.;Goulianos, K.;Grassmann, H.;Grewal, A.;Grieco, G.;Groer, L.;Grosso Pilcher, C.;Haber, C.;Hahn, S. R.;Hamilton, R.;Handler, R.;Hans, R. M.;Hara, K.;Harral, B.;Harris, R. M.;Hauger, S. A.;Hauser, J.;Hawk, C.;Heinrich, J.;Cronin Hennessy, D.;Hollebeek, R.;Holloway, L.;Hölscher, A.;Hong, S.;Houk, G.;Hu, P.;Huffman, B. T.;Hughes, R.;Hurst, P.;Huston, J.;Huth, J.;Hylen, J.;Incagli, M.;Incandela, J.;Iso, H.;Jensen, H.;Jessop, C. P.;Joshi, U.;Kadel, R. W.;Kajfasz, E.;Kamon, T.;Kaneko, T.;Kardelis, D. A.;Kasha, H.;Kato, Y.;Keeble, L.;Kennedy, R. D.;Kephart, R.;Kesten, P.;Kestenbaum, D.;Keup, R. M.;Keutelian, H.;Keyvan, F.;Kim, D. H.;Kim, H. S.;Kim, S. B.;Kim, S. H.;Kim, Y. K.;Kirsch, L.;Koehn, P.;Kondo, K.;Konigsberg, J.;Kopp, S.;Kordas, K.;Koska, W.;Kovacs, E.;Kowald, W.;Krasberg, M.;Kroll, J.;Kruse, M.;Kuhlmann, S. E.;Kuns, E.;Laasanen, A. T.;Lammel, S.;Lamoureux, J. I.;Lecompte, T.;Leone, S.;Lewis, J. D.;Limon, P.;Lindgren, M.;Liss, T. M.;Lockyer, N.;Loomis, C.;Long, O.;Loreti, M.;Low, E. H.;Lu, J.;Lucchesi, D.;Luchini, C. B.;Lukens, P.;Maas, P.;Maeshima, K.;Maghakian, A.;Maksimovic, P.;Mangano, M.;Mansour, J.;Mariotti, M.;Marriner, J. P.;Martin, A.;Matthews, J. A. J.;Mattingly, R.;Mcintyre, P.;Melese, P.;Menzione, A.;Meschi, E.;Michail, G.;Mikamo, S.;Miller, M.;Miller, R.;Mimashi, T.;Miscetti, S.;Mishina, M.;Mitsushio, H.;Miyashita, S.;Morita, Y.;Moulding, S.;Mueller, J.;Mukherjee, A.;Muller, T.;Musgrave, P.;Nakae, L. F.;Nakano, I.;Nelson, C.;Neuberger, D.;Newman Holmes, C.;Nodulman, L.;Ogawa, S.;Oh, S. H.;Ohl, K. E.;Oishi, R.;Okusawa, T.;Pagliarone, C.;Paoletti, R.;Papadimitriou, V.;Park, S.;Patrick, J.;Pauletta, G.;Paulini, M.;Pescara, L.;Peters, M. D.;Phillips, T. J.;Piacentino, G.;Pillai, M.;Plunkett, R.;Pondrom, L.;Produit, N.;Proudfoot, J.;Ptohos, F.;PUNZI, GIOVANNI;Ragan, K.;Rimondi, F.;Ristori, L.;Roach Bellino, M.;Robertson, W. J.;Rodrigo, T.;Romano, J.;Rosenson, L.;Sakumoto, W. K.;Saltzberg, D.;Sansoni, A.;Scarpine, V.;Schindler, A.;Schlabach, P.;Schmidt, E. E.;Schmidt, M. P.;Schneider, O.;Sciacca, G. F.;Scribano, A.;Segler, S.;Seidel, S.;Seiya, Y.;Sganos, G.;Sgolacchia, A.;Shapiro, M.;Shaw, N. M.;Shen, Q.;Shepard, P. F.;Shimojima, M.;Shochet, M.;Siegrist, J.;Sill, A.;Sinervo, P.;Singh, P.;Skarha, J.;Sliwa, K.;Smith, D. A.;Snider, F. D.;Song, L.;Song, T.;Spalding, J.;Spiegel, L.;Sphicas, P.;Spies, A.;Stanco, L.;Steele, J.;Stefanini, A.;Strahl, K.;Strait, J.;Stuart, D.;Sullivan, G.;Sumorok, K.;R. L. , Swartz J.r.;Takahashi, T.;Takikawa, K.;Tartarelli, F.;Taylor, W.;Teramoto, Y.;Tether, S.;Theriot, D.;Thomas, J.;Thomas, T. L.;Thun, R.;Timko, M.;Tipton, P.;Titov, A.;Tkaczyk, S.;Tollefson, K.;Tollestrup, A.;Tonnison, J.;De Troconiz, J. F.;Tseng, J.;Turcotte, M.;Turini, N.;Uemura, N.;Ukegawa, F.;Unal, G.;Van Den Brink, S.;Vejcik, S.;Vidal, R.;Vondracek, M.;Wagner, R. G.;Wagner, R. L.;Wainer, N.;Walker, R. C.;Wang, G.;Wang, J.;Wang, M. J.;Wang, Q. F.;Warburton, A.;Watts, G.;Watts, T.;Webb, R.;Wendt, C.;Wenzel, H.;Wester, W. C.;Westhusing, T.;Wicklund, A. B.;Wicklund, E.;Wilkinson, R.;Williams, H. H.;Wilson, P.;Winer, B. L.;Wolinski, J.;Wu, D. Y.;Wu, X.;Wyss, J.;Yagil, A.;Yao, W.;Yasuoka, K.;Ye, Y.;Yeh, G. P.;Yeh, P.;Yin, M.;Yoh, J.;Yoshida, T.;Yovanovitch, D.;Yu, I.;Yun, J. C.;Zanetti, A.;Zetti, F.;Zhang, L.;Zhang, S.;Zhang, W.;Zucchelli, S.

1994-01-01

Abstract

Measurement

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				1994
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.73.2662
			
	Tutti gli autori
	
						Abe, F.; Albrow, M. G.; Amidei, D.; Antos, J.; Anway Wiese, C.; Apollinari, G.; Areti, H.; Atac, M.; Auchincloss, P.; Azfar, F.; Azzi, P.; Bacchetta, ...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11568/757031

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Precision measurement of the prompt photon cross section in pp̄ collisions at s=1.8 TeV

1994-01-01

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

Citazioni

social impact

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Precision measurement of the prompt photon cross section in pp̄ collisions at s=1.8 TeV

1994-01-01

Abstract

Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC)

Informazioni

Citazioni

social impact

Conferma cancellazione

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)