Measurement

Charge asymmetry in W-Boson decays produced in pp̄ collisions at s=1.8 TeV

DONATI, SIMONE;PUNZI, GIOVANNI;
1995

Abstract

Measurement
Abe, F.; Albrow, M. G.; Amidei, D.; Antos, J.; Anway Wiese, C.; Apollinari, G.; Areti, H.; Atac, M.; Auchincloss, P.; Azfar, F.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Badgett, W.; Bailey, M. W.; Bao, J.; De Barbaro, P.; Barbaro Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Bartalini, P.; Bauer, G.; Baumann, T.; Bedeschi, F.; Behrends, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Benlloch, J.; Bensinger, J.; Benton, D.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Bertolucci, S.; Bhatti, A.; Biery, K.; Binkley, M.; Bird, F.; Bisello, D.; Blair, R. E; Blocker, C.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolognesi, V.; Bortoletto, D.; Boswell, C.; Boulos, T.; Brandenburg, G.; Buckley Geer, E.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon Wagner, A.; Byrum, K. L.; Cammerata, J.; Campagnari, C.; Campbell, M.; Caner, A.; Carithers, W.; Carlsmith, D.; Castro, A.; Cen, Y.; Cervelli, F.; Chapman, J.; Cheng, M. T.; Chiarelli, G.; Chikamatsu, T.; Cihangir, S.; Clark, A. G.; Cobal, M.; Contreras, M.; Conway, J.; Cooper, J.; Cordelli, M.; Crane, D.; Cunningham, J. D.; Daniels, T.; Dejongh, F.; Delchamps, S.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demortier, L.; Denby, B.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dickson, M.; Donati, Simone; Drucker, R. B.; Dunn, A.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Ely, R.; E., Engels J. r.; Eno, S.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Farhat, B.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Frautschi, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Frisch, H.; Fry, A.; Fuess, T. A.; Fukui, Y.; Funaki, S.; Gagliardi, G.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Garfinkel, A. F.; Geer, S.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giokaris, N.; Giromini, P.; Gladney, L.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Gonzalez, J.; Gordon, A.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Grassmann, H.; Grewal, A.; Grieco, G.; Groer, L.; Grosso Pilcher, C.; Haber, C.; Hahn, S. R.; Hamilton, R.; Handler, R.; Hans, R. M.; Hara, K.; Harral, B.; Harris, R. M.; Hauger, S. A.; Hauser, J.; Hawk, C.; Heinrich, J.; Cronin Hennessy, D.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hölscher, A.; Hong, S.; Houk, G.; Hu, P.; Huffman, B. T.; Hughes, R.; Hurst, P.; Huston, J.; Huth, J.; Hylen, J.; Incagli, M.; Incandela, J.; Iso, H.; Jensen, H.; Jessop, C. P.; Joshi, U.; Kadel, R. W.; Kajfasz, E.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Kardelis, D. A.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keeble, L.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Kesten, P.; Kestenbaum, D.; Keup, R. M.; Keutelian, H.; Keyvan, F.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirsch, L.; Koehn, P.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kopp, S.; Kordas, K.; Koska, W.; Kovacs, E.; Kowald, W.; Krasberg, M.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kuns, E.; Laasanen, A. T.; Labanca, N.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lecompte, T.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Limon, P.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Lockyer, N.; Loomis, C.; Long, O.; Loreti, M.; Low, E. H.; Lu, J.; Lucchesi, D.; Luchini, C. B.; Lukens, P.; Maas, P.; Maeshima, K.; Maghakian, A.; Maksimovic, P.; Mangano, M.; Mansour, J.; Mariotti, M.; Marriner, J. P.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mattingly, R.; Mcintyre, P.; Melese, P.; Menzione, A.; Meschi, E.; Michail, G.; Mikamo, S.; Miller, M.; Miller, R.; Mimashi, T.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitsushio, H.; Miyashita, S.; Morita, Y.; Moulding, S.; Mueller, J.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Musgrave, P.; Nakae, L. F.; Nakano, I.; Nelson, C.; Neuberger, D.; Newman Holmes, C.; Nodulman, L.; Ogawa, S.; Oh, S. H.; Ohl, K. E.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Pagliarone, C.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Park, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Pescara, L.; Peters, M. D.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pillai, M.; Plunkett, R.; Pondrom, L.; Produit, N.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, Giovanni; Ragan, K.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Roach Bellino, M.; Robertson, W. J.; Rodrigo, T.; Romano, J.; Rosenson, L.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sansoni, A.; Scarpine, V.; Schindler, A.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schneider, O.; Sciacca, G. F.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Sganos, G.; Sgolacchia, A.; Shapiro, M.; Shaw, N. M.; Shen, Q.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Skarha, J.; Sliwa, K.; Smith, D. A.; Snider, F. D.; Song, L.; Song, T.; Spalding, J.; Spiegel, L.; Sphicas, P.; Spies, A.; Stanco, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strahl, K.; Strait, J.; Stuart, D.; Sullivan, G.; Sumorok, K.; Swartz, R. L.; Takahashi, T.; Takikawa, K.; Tartarelli, F.; Taylor, W.; Teramoto, Y.; Tether, S.; Theriot, D.; Thomas, J.; Thomas, T. L.; Thun, R.; Timko, M.; Tipton, P.; Titov, A.; Tkaczyk, S.; Tonnifson, K.; Tollestrup, A.; Tonnison, J.; De Troconiz, J. F.; Tseng, J.; Turcotte, M.; Turini, N.; Uemura, N.; Ukegawa, F.; Unal, G.; Van Den Brink, S.; Vejcik, S.; Vidal, R.; Vondracek, M.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wainer, N.; Walker, R. C.; Wang, G.; Wang, J.; Wang, M. J.; Wang, Q. F.; Warburton, A.; Watts, G.; Watts, T.; Webb, R.; Wendt, C.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Westhusing, T.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkinson, R.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wolinski, J.; Wu, D. Y.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yasuoka, K.; Ye, Y.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yin, M.; Yoh, J.; Yoshida, T.; Yovanovitch, D.; Yu, I.; Yun, J. C.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zhang, L.; Zhang, S.; Zhang, W.; Zucchelli, S.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11568/757041
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 65
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact