Measurement of Double Parton Scattering inp¯pCollisions ats=1.8TeV

Abe, F.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amendolia, S. R.; Amidei, D.; Antos, J.; Aota, S.; Apollinari, G.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Atac, M.; Azfar, F.; Azzi Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Badgett, W.; Bagdasarov, S.; Bailey, M. W.; Bao, J.; de Barbaro, P.; Barbaro Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Barone, M.; Barzi, E.; Bauer, G.; Baumann, T.; Bedeschi, F.; Behrends, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Benlloch, J.; Bensinger, J.; Benton, D.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bertolucci, S.; Bevensee, B.; Bhatti, A.; Biery, K.; Binkley, M.; Bisello, D.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolognesi, V.; Bolla, G.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Breccia, L.; Bromberg, C.; Bruner, N.; Buckley Geer, E.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon Wagner, A.; Byrum, K. L.; Cammerata, J.; Campagnari, C.; Campbell, M.; Caner, A.; Carithers, W.; Carlsmith, D.; Castro, A.; Cauz, D.; Cen, Y.; Cervelli, F.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chao, H. Y.; Chapman, J.; Cheng, M. T.; Chiarelli, G.; Chikamatsu, T.; Chiou, C. N.; Christofek, L.; Cihangir, S.; Clark, A. G.; Cobal, M.; Cocca, E.; Contreras, M.; Conway, J.; Cooper, J.; Cordelli, M.; Couyoumtzelis, C.; Crane, D.; Cronin Hennessy, D.; Culbertson, R.; Daniels, T.; Dejongh, F.; Delchamps, S.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demina, R.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Donati, Simone; Done, J.; Dorigo, T.; Dunn, A.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Ely, R.; Engels, J. r.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, G.; Ferretti, C.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Frautschi, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Frisch, H.; Fukui, Y.; Funaki, S.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Ganel, O.; Garcia Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Geer, S.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giokaris, N.; Giromini, P.; Giusti, G.; Gladney, L.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Gonzalez, J.; Gordon, A.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Grassmann, H.; Groer, L.; Grosso Pilcher, C.; Guillian, G.; Guo, R. S.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hamilton, R.; Handler, R.; Hans, R. M.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harral, B.; Harris, R. M.; Hauger, S. A.; Hauser, J.; Hawk, C.; Hayashi, E.; Heinrich, J.; Hinrichsen, B.; Hoffman, K. D.; Hohlmann, M.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hong, S.; Houk, G.; Hu, P.; Huffman, B. T.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Hylen, J.; Ikeda, H.; Incagli, M.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; Jensen, H.; Joshi, U.; Kadel, R. W.; Kajfasz, E.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Kesten, P.; Kestenbaum, D.; Keutelian, H.; Keyvan, F.; Kharadia, B.; Kim, B. J.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirsch, L.; Koehn, P.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kopp, S.; Kordas, K.; Korytov, A.; Koska, W.; Kovacs, E.; Kowald, W.; Krasberg, M.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuwabara, T.; Kuhlmann, S. E.; Kuns, E.; Laasanen, A. T.; Lami, S.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lancaster, M.; Lecompte, T.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Limon, P.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Lockyer, N.; Long, O.; Loomis, C.; Loreti, M.; Lu, J.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lys, J.; Maeshima, K.; Maghakian, A.; Maksimovic, P.; Mangano, M.; Mansour, J.; Mariotti, M.; Marriner, J. P.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mattingly, R.; Mcintyre, P.; Melese, P.; Menzione, A.; Meschi, E.; Metzler, S.; Miao, C.; Miao, T.; Michail, G.; Miller, R.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitsushio, H.; Miyamoto, T.; Miyashita, S.; Moggi, N.; Morita, Y.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Murat, P.; Nakada, H.; Nakano, I.; Nelson, C.; Neuberger, D.; Newman Holmes, C.; Ngan, C. Y. P.; Ninomiya, M.; Nodulman, L.; S. H., Oh; Ohl, K. E.; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okabe, M.; Okusawa, T.; Oliveira, R.; Olsen, J.; Pagliarone, C.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pappas, S. P.; Parashar, N.; Park, S.; Parri, A.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Perazzo, A.; Pescara, L.; Peters, M. D.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pillai, M.; Pitts, K. T.; Plunkett, R.; Pondrom, L.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, Giovanni; Ragan, K.; Reher, D.; Ribon, A.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Romano, J.; Rosenson, L.; Roser, R.; Saab, T.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Sganos, G.; Shapiro, M. D.; Shaw, N. M.; Shen, Q.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Skarha, J.; Sliwa, K.; Snider, F. D.; Song, T.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, P.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Stanco, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strahl, K.; Strait, J.; Ströhmer, R.; Stuart, D.; Sullivan, G.; Sumorok, K.; Suzuki, J.; Takada, T.; Takahashi, T.; Takano, T.; Takikawa, K.; Tamura, N.; Tannenbaum, B.; Tartarelli, F.; Taylor, W.; Teng, P. K.; Teramoto, Y.; Tether, S.; Theriot, D.; Thomas, T. L.; Thun, R.; Thurman Keup, R.; Timko, M.; Tipton, P.; Titov, A.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; de Troconiz, J. F.; Truitt, S.; Tseng, J.; Turini, N.; Uchida, T.; Uemura, N.; Ukegawa, F.; Unal, G.; Valls, J.; van den Brink, S. C.; Vejcik III, S.; Velev, G.; Vidal, R.; Vilar, R.; Vondracek, M.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wahl, J.; Wallace, N. B.; Walsh, A. M.; Wang, C.; Wang, C. H.; Wang, J.; Wang, M. J.; Wang, Q. F.; Warburton, A.; Watts, T.; Webb, R.; Wei, C.; Wenzel, H.; Wester III, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkinson, R.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yasuoka, K.; Ye, Y.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yin, M.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yovanovitch, D.; Yu, I.; Yu, L.; Yun, J. C.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zhang, L.; Zhang, W.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevLett.79.584

A strong signal for double parton scattering (DP) is observed in a 16 pb(-1) sample of (p) over bar p(-1) sample of (p) over bar p --> gamma + 3 jets + X data from the CDF experiment at the Fermilab Tevatron. The process-independent DP parameter, sigma(eff), is obtained without reference to theoretical calculations by comparing observed DP events to events with hard scatterings at separate (p) over bar p collisions. The result, sigma(eff) = (14.5 +/- 1.7(-2.3)(+1.7)) mb. represents a significant improvement over previous measurements. For the first time, the Feynman x dependence of the sigma(eff) parameter is investigated, and no dependence is seen.