Measurement of the t(t)over-bar production cross section in p(p)over-bar collisions at root s=1.96 TeV using kinematic fitting of b-tagged lepton plus jet events

Acosta, D.; Adelman, J.; Affolder, T.; Akimoto, T.; Albrow, M. G.; Ambrose, D.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Anikeev, K.; Annovi, A.; Antos, J.; Aoki, M.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Arguin, J. F.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Azfar, F.; Azzi Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bachacou, H.; Badgett, W.; Barbaro Galtieri, A.; Barker, G. J.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Behari, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Ben Haim, E.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bolla, G.; Bolshov, A.; P. S. L.,; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Bourov, S.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Calafiura, P.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canepa, A.; Casarsa, M.; Carlsmith, D.; Carron, S.; Carosi, R.; Cavalli Sforza, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cerri, A.; Cerri, C.; Cerrito, L.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, I.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chu, M. L.; Chuang, S.; Chung, J. Y.; Chung, W. H.; Chung, Y. S.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, MARIA AGNESE; Clark, A. G.; Clark, D.; Coca, M.; Connolly, A.; Convery, M.; Conway, J.; Cooper, B.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Cranshaw, J.; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Currat, C.; Cyr, D.; Dagenhart, D.; Ronco, S. D.; D'Auria, S.; Barbaro, P. d.; Cecco, S. D.; Lentdecker, G. D.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demers, S.; Demortier, L.; Deninno, M.; Pedis, D. D.; Derwent, P. F.; Dionisi, C.; Dittmann, J. R.; Doksus, P.; Dominguez, A.; Donega, M.; Donini, J.; D'Onofrio, M.; Dorigo, T.; Drollinger, V.; Ebina, K.; Eddy, N.; Ely, R.; Erbacher, R.; Erdmann, M.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. C.; Farrington, S.; Fedorko, I.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flanagan, G.; Flaugher, B.; Flores Castillo, L. R.; Foland, A.; Forrester, S.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Frisch, H.; Fujii, Y.; Furic, I.; Gajjar, A.; Gallas, A.; Galyardt, J.; Gallinaro, M.; Garcia Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Gerberich, H.; Gerdes, D. W.; Gerchtein, E.; Giagu, S.; Giannetti, P.; Gibson, A.; Gibson, K.; Ginsburg, C.; Giolo, K.; Giordani, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Goldstein, D.; Goldstein, J.; Gomez, G.; Gomez Ceballos, G.; Goncharov, M.; Gonzalez, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Griffiths, M.; Grosso Pilcher, C.; Guenther, M.; J. G., Da; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Hamilton, A.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, M.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Hays, C.; Hayward, H.; Heider, E.; Heinemann, B.; Heinrich, J.; Hennecke, M.; Herndon, M.; Hill, C.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hoffman, K. D.; Holloway, A.; Hou, S.; Houlden, M. A.; Huffman, B. T.; Huang, Y.; Hughes, R. E.; Huston, J.; Ikado, K.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ishizawa, Y.; Issever, C.; Ivanov, A.; Iwata, Y.; Iyutin, B.; James, E.; Jang, D.; Jarrell, J.; Jeans, D.; Jensen, H.; Jeon, E. J.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S.; Junk, T.; Kamon, T.; Kang, J.; Unel, M. K.; Karchin, P. E.; Kartal, S.; Kato, Y.; Kemp, Y.; Kephart, R.; Kerzel, U.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, M. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, T. H.; Kim, Y. K.; King, B. T.; Kirby, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Knuteson, B.; B. R., Ko; Kobayashi, H.; Koehn, P.; Kong, D. J.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kotelnikov, K.; Kotwal, A. V.; Kovalev, A.; Kraus, J.; Kravchenko, I.; Kreymer, A.; Kroll, J.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kuhlmann, S. E.; Kuznetsova, N.; Laasanen, A. T.; Lai, S.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lauhakangas, R.; Lazzizzera, I.; Le, Y.; Lecci, C.; Lecompte, T.; Lee, J.; Lee, J.; Lee, S. W.; Lefevre, R.; Leonardo, N.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Li, K.; Lin, C.; Lin, C. S.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Litvintsev, D. O.; Liu, T.; Liu, Y.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Loverre, P.; R. S., Lu; Lucchesi, D.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; Macqueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Manca, G.; Marginean, R.; Martin, M.; Martin, A.; Martin, V.; Martinez, M.; Maruyama, T.; Matsunaga, H.; Mattson, M.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcgivern, D.; Mcintyre, P. M.; Mcnamara, P.; Ncnulty, R.; Menzemer, S.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Messina, A.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miller, L.; Miller, R.; Miller, J. S.; Miquel, R.; Miscetti, S.; Mitselmakher, G.; Miyamoto, A.; Miyazaki, Y.; Moggi, N.; Mohr, B.; Moore, R.; Morello, M.; Mukherjee, A.; Mulhearn, M.; Muller, T.; Mumford, R.; Munar, A.; Murat, P.; Nachtman, J.; Nahn, S.; Nakamura, I.; Nakano, I.; Napier, A.; Napora, R.; Naumov, D.; Necula, V.; Niell, F.; Nielsen, J.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Newman Holmes, C.; Nicollerat, A. S.; Nigmanov, T.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Oesterberg, K.; Ogawa, T.; S. H., Oh; Y. D., Oh; Ohsugi, T.; Okusawa, T.; Oldeman, R.; Orava, R.; Orejudos, W.; Pagliarone, C.; Palmonari, F.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Pauly, T.; Paus, C.; Pellett, D.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Piedra, J.; Pitts, K. T.; Plager, C.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Poukhov, O.; Prakoshyn, F.; Pratt, T.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Rademacker, J.; Rakitine, A.; Rappoccio, S.; Ratnikov, F.; Ray, H.; Reichold, A.; Reisert, B.; Rekovic, V.; Renton, P.; Rescigno, M.; Rimondi, F.; Rinnert, K.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Rott, C.; Russ, J.; Ruiz, A.; Ryan, D.; Saarikko, H.; Safonov, A.; Denis, R. S.; Sakumoto, W. K.; Salamanna, G.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sato, K.; Savard, P.; Savoy Navarro, A.; Schemitz, P.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semeria, F.; Sexton Kennedy, L.; Sfiligoi, I.; Shapiro, M. D.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sidoti, A.; Siegrist, J.; Siket, M.; Sill, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Skiba, A.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smirnov, D.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Somalwar, S. V.; Spalding, J.; Spezziga, M.; Spiegel, L.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Squillacioti, P.; Stadie, H.; Stefanini, A.; Stelzer, B.; Stelzer Chilton, O.; Strologas, J.; Stuart, D.; Sukhanov, A.; Sumorok, K.; Sun, H.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Tafirout, R.; Takach, S. F.; Takano, H.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tanaka, R.; Tanimoto, N.; Tapprogge, S.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tesarek, R. J.; Tether, S.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Tipton, P.; Tiwari, V.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Tonnesmann, M.; Torre, S.; Torretta, D.; Tourneur, S.; Trischuk, W.; Tseng, J.; Tsuchiya, R.; Tsuno, S.; Tsybychev, D.; Turini, N.; Turner, M.; Ukegawa, F.; Unverhau, T.; Uozumi, S.; Usynin, D.; Vacavant, L.; Vaiciulis, A.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vejcik, S.; Velev, G.; Veramendi, G.; Vickey, T.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Volobouev, I.; Der, M. v.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, W.; Wallny, R.; Walter, T.; Yamashita, T.; Yamamoto, K.; Wan, Z.; Wang, M. J.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Ward, B.; Waschke, S.; Waters, D.; Watts, T.; Weber, M.; Wester, W. C.; Whitehouse, B.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolter, M.; Worcester, M.; Worm, S.; Wright, T.; Wu, X.; Wurthwein, F.; Wyatt, A.; Yagil, A.; Yang, U. K.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yi, K.; Yoh, J.; Yoon, P.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zaw, I.; Zetti, F.; Zhou, J.; Zsenei, A.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevD.71.072005

We report a measurement of the t (t) over bar production cross section using the CDF II detector at the Fermilab Tevatron. The data consist of events with an energetic electron or muon, missing transverse energy, and three or more hadronic jets, at least one of which is identified as a b-quark jet by reconstructing a secondary vertex. The background fraction is determined from a fit of the transverse energy of the leading jet. Using 162 +/- 10 pb(-1) of data, the total cross section is found to be 6.0 +/- 1.6(stat.)+/- 1.2(syst.) pb, which is consistent with the standard model prediction.