A Direct Measurement of the Invisible Width of the Z From Single photon Counting

Buskulic, D.; Debonis, I.; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Pietrzyk, B.; Ariztizabal, F.; Comas, P.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Efthymiopoulos, I.; Fernandez, E.; Fernandezbosman, M.; Gaitan, V.; Garrido, L.; Mattison, T.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Pascual, A.; Creanza, D.; Depalma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Quattromini, M.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Chai, Y.; Hu, H.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Blucher, E.; Bonvicini, G.; Boudreau, J.; Casper, D.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Ganis, G.; Gay, C.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Hilgart, J.; Jacobsen, R.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Maggi, M.; Markou, C.; Martinez, M.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miotto, A.; Miquel, R.; Moser, H. G.; Palazzi, P.; Pater, J. R.; Perlas, J. A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Redlinger, G.; Rolandi, L.; Rothberg, J.; Ruan, T.; Saich, M.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Sefkow, F.; Tejessy, W.; Tomalin, I. R.; Veenhof, R.; Wachsmuth, H.; Wasserbaech, S.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Badaud, F.; Bardadinotwinowska, M.; Elfellous, R.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Prulhiere, F.; Saadi, F.; Fearnley, T.; Hansen, J. B.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Mollerud, R.; Nilsson, B. S.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Siotis, I.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Fouque, G.; Orteu, S.; Rouge, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Verderi, M.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Veitch, E.; Focardi, E.; Moneta, L.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Levinthal, D.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; Dettorrepiazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepealtarelli, M.; Picchi, P.; Colrain, P.; Tenhave, I.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Turnbull, R. M.; Brandl, B.; Braun, O.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Lieske, N. M.; Moutoussi, A.; Nash, J.; Patton, S.; Payne, D. G.; Phillips, M. J.; Sanmartin, G.; Sedgbeer, J. K.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Vogl, R.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. G.; Schmidt, H.; Steeg, F.; Walther, S. M.; Wanke, R.; Wolf, B.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Carr, J.; Coyle, P.; Drinkard, J.; Etienne, F.; Nicod, D.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Roos, L.; Rousseau, D.; Schwemling, P.; Talby, M.; Adlung, S.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Cattaneo, P.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Frank, M.; Halley, A. W.; Jakobs, K.; Lauber, J.; Lutjens, G.; Lutz, G.; Manner, W.; Richter, R.; Schroder, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stiegler, U.; Stdenis, R.; Wolf, G.; Alemany, R.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, P.; Jaffe, D. E.; Janot, P.; Kim, D. W.; Lediberder, F.; Lefrancois, J.; Lutz, A. M.; Schune, M. H.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zhang, Z.; Abbaneo, D.; Bagliesi, G.; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, MARIA AGNESE; Ciulli, V.; Dellorso, R.; Fidecaro, Francesco; Foa, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Valassi, A.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Gao, Y.; Green, M. G.; March, P. V.; Mir, L. M.; Medcalf, T.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; West, L. R.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Blochdevaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lancon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Marx, B.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Mohand, D. S.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Ashman, J. G.; Babbage, W.; Booth, C. N.; Buttar, C.; Cartwright, S.; Combley, F.; Dawson, I.; Thompson, L. F.; Barberio, E.; Bohrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Grupen, C.; Lutters, G.; Rivera, F.; Schafer, U.; Smolik, L.; Bosisio, L.; Dellamarina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Ragusa, F.; Bellantoni, L.; Chen, W.; Conway, J. S.; Feng, Z.; D. P. S.,; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Hayes, O. J.; Nachtman, J. M.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Scott, I.; Sharma, V.; Shi, Z. H.; Turk, J. D.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; S. L., Wu; Wu, X.; Zheng, M.; Zobernig, G.

doi:10.1016/0370-2693(93)90027-F

The ALEPH detector at LEP is used to study single photon events in e+e- collisions at the Z resonance. In a total data sample of 15.7 pb(-1) taken in 1990 and 1991 scanning the resonance, 400 events were recorded where each has a single deposition of more than 1.5 GeV measured in the polar angular region |costheta(gamma)|< 0.74 of the electromagnetic calorimeter. It is shown that this number of events can be accounted for by known processes. After subtraction of background events, the invisible width of the Z is determined to be 450 +/- 34(stat.) +/- 34(syst.) MeV. Using Z resonance parameters derived by ALEPH, the corresponding number of light neutrino generations is found to be 2.68 +/- 0.20(stat.) +/- 0.20(syst.).