Measurement of the t(t)over bar production cross section in p(p)over bar collisions at root s=1.96 TeV using lepton plus jets events with semileptonic B decays to muons

Acosta, D.; Adelman, J.; Affolder, T.; Akimoto, T.; Albrow, M. G.; Ambrose, D.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Anikeev, K.; Annovi, A.; Antos, J.; Aoki, M.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Arguin, J. F.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Azfar, F.; Azzi Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bachacou, H.; Badgett, W.; Barbaro Galtieri, A.; Barker, G. J.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Behari, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Belloni, A.; Ben Haim, E.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Berry, T.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bolla, G.; Bolshov, A.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Bourov, S.; Brau, B.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Casarsa, M.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carron, S.; Cavalli Sforza, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chapman, J.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, I.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J. P.; Chuang, S.; Chung, K.; Chung, W. H.; Chung, Y. S.; Cijliak, M.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, MARIA AGNESE; Clark, A. G.; Clark, D.; Coca, M.; Connolly, A.; Convery, M.; Conway, J.; Cooper, B.; Copic, K.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Cranshaw, J.; Cuevas, J.; Cruz, A.; Culbertson, R.; Currat, C.; Cyr, D.; Dagenhart, D.; Ronco, S. D.; D'Auria, S.; Barbaro, P. d.; Cecco, S. D.; Deisher, A.; Lentdecker, G. D.; Dell'Orso, M.; Demers, S.; Demortier, L.; Deninno, M.; Pedis, D. D.; Derwent, P. F.; Dionisi, C.; Dittmann, J. R.; Dituro, P.; Dorr, C.; Dominguez, A.; Donega, M.; Donini, J.; D'Onofrio, M.; Dorigo, T.; Ebina, K.; Efron, J.; Ehlers, J.; Erbacher, R.; Erdmann, M.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. C.; Farrington, S.; Fedorko, I.; Fedorko, W. T.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Field, R. D.; Flanagan, G.; Flores Castillo, L. R.; Foland, A.; Forrester, S.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J. C.; Fujii, Y.; Furic, I.; Gajjar, A.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garcia Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Gerberich, H.; Gerdes, D. W.; Gerchtein, E.; Giagu, S.; Giannetti, P.; Gibson, A.; Gibson, K.; Ginsburg, C.; Giolo, K.; Giordani, M.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Goldstein, D.; Goldstein, J.; Gomez, G.; Gomez Ceballos, G.; Goncharov, M.; Gonzalez, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Griffiths, M.; Grosso Pilcher, C.; Grundler, U.; J. G., Da; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Hamilton, A.; Han, B. Y.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, M.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Hays, C.; Hayward, H.; Heinemann, B.; Heinrich, J.; Hennecke, M.; Herndon, M.; Hill, C.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hoffman, K. D.; Holloway, A.; Hou, S.; Houlden, M. A.; Huffman, B. T.; Huang, Y.; Hughes, R. E.; Huston, J.; Ikado, K.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ishizawa, Y.; Issever, C.; Ivanov, A.; Iwata, Y.; Iyutin, B.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeans, D.; Jensen, H.; Jeon, E. J.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S. Y.; Junk, T.; Kamon, T.; Kang, J.; Unel, M. K.; Karchin, P. E.; Kato, Y.; Kemp, Y.; Kephart, R.; Kerzel, U.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, M. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirby, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Klute, M.; Knuteson, B.; B. R., Ko; Kobayashi, H.; Kong, D. J.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kotwal, A. V.; Kovalev, A.; Kraus, J.; Kravchenko, I.; Kreymer, A.; Kroll, J.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kuhlmann, S. E.; Kwang, S.; Laasanen, A. T.; Lai, S.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; Lecci, C.; Lecompte, T.; Lee, J.; Lee, J.; Lee, S. W.; Lefevre, R.; Leonardo, N.; Leone, S.; Levy, S.; Lewis, J. D.; Li, K.; Lin, C.; Lin, C. S.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Liss, T. M.; Lister, A.; Litvintsev, D. O.; Liu, T.; Liu, Y.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Loverre, P.; R. S., Lu; Lucchesi, D.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; Lytken, E.; Macqueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Manca, G.; Margaroli,; Marginean, R.; Marino, C.; Martin, A.; Martin, M.; Martin, V.; Martinez, M.; Maruyama, T.; Matsunaga, H.; Mattson, M.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcgivern, D.; Mcintyre, P. M.; Mcnamara, P.; Mcnulty,; Mehta, A.; Menzemer, S.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Messina, A.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miles, J.; Miller, L.; Miller, R.; Miller, J. S.; Mills, C.; Miquel, R.; Miscetti, S.; Mitselmakher, G.; Miyamoto, A.; Moggi, N.; Mohr, B.; Moore, R.; Morello, M.; P. A. M.,; Muelmenstaedt, J.; Mukherjee, A.; Mulhearn, M.; Muller, T.; Mumford, R.; Munar, A.; Murat, P.; Nachtman, J.; Nahn, S.; Nakano, I.; Napier, A.; Napora, R.; Naumov, D.; Necula, V.; Nelson, T.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Nielsen, J.; Nigmanov, T.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Ogawa, T.; S. H., Oh; Y. D., Oh; Ohsugi, T.; Okusawa, T.; Oldeman, R.; Orava, R.; Orejudos, W.; Osterberg, K.; Pagliarone, C.; Palencia, E.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Paramonov, A. A.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pellett, D.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Piedra, J.; Pitts, K. T.; Plager, C.; Pondrom, L.; Pope, G.; Portell, X.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prakoshyn, F.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Rademacker, J.; Rahaman, M. A.; Rakitine, A.; Rappoccio, S.; Ratnikov, F.; Ray, H.; Reisert, B.; Rekovic, V.; Renton, P.; Rescigno, M.; Rimondi, F.; Rinnert, K.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossin, R.; Rott, C.; Russ, J.; Rusu, V.; Ruiz, A.; Ryan, D.; Saarikko, H.; Sabik, S.; Safonov, A.; Denis, R. S.; Sakumoto, W. K.; Salamanna, G.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sato, K.; Savard, P.; Savoy Navarro, A.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scott, A. L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Semeria, F.; Sexton Kennedy, L.; Sfiligoi, I.; Shapiro, M. D.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Sherman, D.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sidoti, A.; Sill, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Sjolin, J.; Skiba, A.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smirnov, D.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Soderberg, M.; Soha, A.; Somalwar, S. V.; Spalding, J.; Spezziga, M.; Spinella, F.; Squillacioti, P.; Stadie, H.; Stanitzki, M.; Stelzer, B.; Stelzer Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Stuart, D.; Suh, J. S.; Sukhanov, A.; Sumorok, K.; Sun, H.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Tafirout, R.; Takano, H.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tanaka, R.; Tanimoto, N.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tesarek, R. J.; Tether, S.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Tipton, P.; Tiwari, V.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Tonnesmann, M.; Torre, S.; Torretta, D.; Tourneur, S.; Trischuk, W.; Tsuchiya, R.; Tsuno, S.; Tsybychev, D.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Unverhau, T.; Uozumi, S.; Usynin, D.; Vacavant, L.; Vaiciulis, A.; Varganov, A.; Vejcik, S.; Velev, G.; Veszpremi, V.; Veramendi, G.; Vickey, T.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vollrath, I.; Volobouev, I.; Der, M. v.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, W.; Wallny, R.; Walter, T.; Wan, Z.; Wang, M. J.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Ward, B.; Waschke, S.; Waters, D.; Watts, T.; Weber, M.; Wester, W. C.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wolter, M.; Worcester, M.; Worm, S.; Wright, T.; Wu, X.; Wurthwein, F.; Wyatt, A.; Yagil, A.; Yamashita, T.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yang, C.; Yang, U. K.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zaw, I.; Zetti, F.; Zhou, J.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevD.72.032002

We present a measurement of the t (t) over bar production cross section using 194 pb(-1) of CDF II data using events with a high transverse momentum electron or muon, three or more jets, and missing transverse energy. The measurement assumes 100% t -> Wb branching fraction. Events consistent with t (t) over bar decay are found by identifying jets containing heavy-flavor semileptonic decays to muons. The dominant backgrounds are evaluated directly from the data. Based on 20 candidate events and an expected background of 9.5 +/- 1.1 events, we measure a production cross section of 5.3 +/- 3.3(-1.0)(+1.3) pb, in agreement with the standard model.