GIRI, ANOJ Statistiche
GIRI, ANOJ
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA CIVILE E INDUSTRIALE
Dalitz analysis of D⁰→K−π+η decays at Belle
2020-01-01 Chen, Y. Q.; Li, L. K.; Yan, W. B.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kimmel, T. D.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Macnaughton, J.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, S.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rabusov, A.; Ritter, M.; Röhrken, M.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shiu, J. -G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Starič, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Varner, G.; Vorobyev, V.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Won, E.; Xu, X.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.
Measuring residual stress in finite thickness plates using the hole-drilling method
2019-01-01 Beghini, M.; Bertini, L.; Giri, Anoj; Santus, C.; Valentini, E.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Dalitz analysis of D⁰→K−π+η decays at Belle | 1-gen-2020 | Chen, Y. Q.; Li, L. K.; Yan, W. B.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kimmel, T. D.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Macnaughton, J.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, S.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rabusov, A.; Ritter, M.; Röhrken, M.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shiu, J. -G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Starič, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Varner, G.; Vorobyev, V.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Won, E.; Xu, X.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V. | |
| Measuring residual stress in finite thickness plates using the hole-drilling method | 1-gen-2019 | Beghini, M.; Bertini, L.; Giri, Anoj; Santus, C.; Valentini, E. |