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Lattice Deformation at Submicron Scale: X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices

Virgilio, M.;
2023-01-01
2023
Corley-Wiciak, C.; Zoellner, M. H.; Zaitsev, I.; Anand, K.; Zatterin, E.; Yamamoto, Y.; Corley-Wiciak, A. A.; Reichmann, F.; Langheinrich, W.; Schreib...espandi
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