Thermal Resistance Analysis by Induced Transient (TRAIT) method for power electronic devices thermal characterization. PART I : fundamentals and theory

BAGNOLI, PAOLO EMILIO;CASAROSA, CLAUDIO;
1998

Bagnoli, PAOLO EMILIO; Ciampi, M.; Casarosa, Claudio; Dallago, E.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11568/203974
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact