Thermal Resistance Analysis by Induced Transient (TRAIT) method for power electronic devices thermal characterization. PART I : fundamentals and theory / BAGNOLI P.E.; CIAMPI M.; CASAROSA C; DALLAGO E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS. - ISSN 0885-8993. - PE-13(1998), pp. 1208-1219.
Autori interni: | |
Autori: | BAGNOLI P.E.; CIAMPI M.; CASAROSA C; DALLAGO E. |
Titolo: | Thermal Resistance Analysis by Induced Transient (TRAIT) method for power electronic devices thermal characterization. PART I : fundamentals and theory |
Anno del prodotto: | 1998 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.