Thermal Resistance Analysis by Induced Transient (TRAIT) method for power electronic devices thermal characterization. PART II : practice and experiments / BAGNOLI P.E.; CASAROSA C; DALLAGO E.; NARDONI M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS. - ISSN 0885-8993. - PE-13(1998), pp. 1220-1228.
Autori interni: | |
Autori: | BAGNOLI P.E.; CASAROSA C; DALLAGO E.; NARDONI M. |
Titolo: | Thermal Resistance Analysis by Induced Transient (TRAIT) method for power electronic devices thermal characterization. PART II : practice and experiments |
Anno del prodotto: | 1998 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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