Low frequency current noise in unstressed/stressed thin oxide metal-oxide-semiconductor capacitors / F. CRUPI; IANNACCONE G; C. CIOFI; B. NERI; S. LOMBARDO; C. PACE. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 46(2002), pp. 1807-1813.
Autori interni: | |
Autori: | F. CRUPI; IANNACCONE G; C. CIOFI; B. NERI; S. LOMBARDO; C. PACE |
Titolo: | Low frequency current noise in unstressed/stressed thin oxide metal-oxide-semiconductor capacitors |
Anno del prodotto: | 2002 |
Digital Object Identifier (DOI): | 10.1016/S0038-1101(02)00153-3 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.