BASSO, GIOVANNI Statistiche
BASSO, GIOVANNI
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE
2010 14th International Workshop on Computational Electronics
2010-01-01 Macucci, Massimo; Basso, Giovanni
A detailed Analysis of the Pre-Breakdown Current Fluctuations in Thin Oxide MOS Capacitors
1999-01-01 Neri, Bruno; Crupi, F.; Basso, Giovanni; Lombardo, S.
A Novel Characterization Tool for the Study of Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Oxide MOS Structures
1999-01-01 Basso, Giovanni; Crupi, F.; Giannetti, R.; Lombardo, S.; Neri, Bruno
All-2D Material Inkjet-Printed Capacitors: Toward Fully Printed Integrated Circuits
2018-01-01 Worsley, Robyn; Pimpolari, Lorenzo; Mcmanus, Daryl; Ge, Ning; Ionescu, Robert; Wittkopf, Jarrid A; Alieva, Adriana; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo; Iannaccone, Giuseppe; Novoselov, Kostya S; Holder, Helen; Fiori, Gianluca; Casiraghi, Cinzia
Carrier density dependence of 1/f noise in graphene explained as a result of the interplay between band-structure and inhomogeneities
2016-01-01 Pellegrini, B.; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni
Characterization and diagnostics of VLSI microstructures
1989-01-01 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Basso, Giovanni; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; Macucci, Massimo; M., Mule'; Neri, Bruno; B., Pellegrini; Saletti, Roberto
Concurrent effects of Pauli and Coulomb interaction in resonant tunneling diodes at low bias and low temperature
2003-01-01 Iannaccone, Giuseppe; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
Effect of potential fluctuations on shot noise suppression in mesoscopic cavities
2013-01-01 Marconcini, Paolo; M., Totaro; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
Elettronica di Millman
2008-01-01 Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto
Elettronica di Millman 3ed
2005-01-01 Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto
Flicker noise in graphene-based Hall sensors
2017-01-01 Porciatti, A.; Wangt, Z.; Marconcini, P.; Pennelli, G.; Basso, G.; Neumaier, D.; Macucci, M.
Fondamenti di elettronica
2001-01-01 Basso, Giovanni; Neri, Bruno; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo
Improvement of the accuracy of noise measurements by the two-amplifier correlation method
2013-01-01 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Fiori, Gianluca; Macucci, Massimo; I. A., Maione; Marconcini, Paolo
Inkjet-printed graphene Hall mobility measurements and low-frequency noise characterization
2020-01-01 Calabrese, G.; Pimpolari, L.; Conti, S.; Mavier, F.; Majee, S.; Worsley, R.; Wang, Z.; Pieri, F.; Basso, G.; Pennelli, G.; Parvez, K.; Brooks, D.; Macucci, M.; Iannaccone, G.; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.; Fiori, G.
Is the peculiar behavior of 1/f noise in graphene the result of the interplay between band-structure and inhomogeneities?
2015-01-01 Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni
Low Frequency Noise and Failure Mechanisms in Microelectronic Devices
1999-01-01 Basso, Giovanni; C., Ciofi; I., Ciofi; F., Crupi; V., Dattilo; Iannaccone, Giuseppe; S., Lombardo; Neri, Bruno
Measurement Techniques of Shot Noise in Nanostructures
2003-01-01 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements
2007-01-01 Fiori, Gianluca; Guidi, L; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Maione, I; Pellegrini, Bruno
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements
2007-01-01 Fiori, Gianluca; L., Guidi; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; I. A., Maione; B., Pellegrini
Model for the 1/f noise behavior of graphene
2016-01-01 Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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2010 14th International Workshop on Computational Electronics | 1-gen-2010 | Macucci, Massimo; Basso, Giovanni | |
A detailed Analysis of the Pre-Breakdown Current Fluctuations in Thin Oxide MOS Capacitors | 1-gen-1999 | Neri, Bruno; Crupi, F.; Basso, Giovanni; Lombardo, S. | |
A Novel Characterization Tool for the Study of Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Oxide MOS Structures | 1-gen-1999 | Basso, Giovanni; Crupi, F.; Giannetti, R.; Lombardo, S.; Neri, Bruno | |
All-2D Material Inkjet-Printed Capacitors: Toward Fully Printed Integrated Circuits | 1-gen-2018 | Worsley, Robyn; Pimpolari, Lorenzo; Mcmanus, Daryl; Ge, Ning; Ionescu, Robert; Wittkopf, Jarrid A; Alieva, Adriana; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo; Iannaccone, Giuseppe; Novoselov, Kostya S; Holder, Helen; Fiori, Gianluca; Casiraghi, Cinzia | |
Carrier density dependence of 1/f noise in graphene explained as a result of the interplay between band-structure and inhomogeneities | 1-gen-2016 | Pellegrini, B.; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni | |
Characterization and diagnostics of VLSI microstructures | 1-gen-1989 | Bagnoli, PAOLO EMILIO; Basso, Giovanni; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; Macucci, Massimo; M., Mule'; Neri, Bruno; B., Pellegrini; Saletti, Roberto | |
Concurrent effects of Pauli and Coulomb interaction in resonant tunneling diodes at low bias and low temperature | 1-gen-2003 | Iannaccone, Giuseppe; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno | |
Effect of potential fluctuations on shot noise suppression in mesoscopic cavities | 1-gen-2013 | Marconcini, Paolo; M., Totaro; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo | |
Elettronica di Millman | 1-gen-2008 | Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto | |
Elettronica di Millman 3ed | 1-gen-2005 | Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto | |
Flicker noise in graphene-based Hall sensors | 1-gen-2017 | Porciatti, A.; Wangt, Z.; Marconcini, P.; Pennelli, G.; Basso, G.; Neumaier, D.; Macucci, M. | |
Fondamenti di elettronica | 1-gen-2001 | Basso, Giovanni; Neri, Bruno; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo | |
Improvement of the accuracy of noise measurements by the two-amplifier correlation method | 1-gen-2013 | Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Fiori, Gianluca; Macucci, Massimo; I. A., Maione; Marconcini, Paolo | |
Inkjet-printed graphene Hall mobility measurements and low-frequency noise characterization | 1-gen-2020 | Calabrese, G.; Pimpolari, L.; Conti, S.; Mavier, F.; Majee, S.; Worsley, R.; Wang, Z.; Pieri, F.; Basso, G.; Pennelli, G.; Parvez, K.; Brooks, D.; Macucci, M.; Iannaccone, G.; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.; Fiori, G. | |
Is the peculiar behavior of 1/f noise in graphene the result of the interplay between band-structure and inhomogeneities? | 1-gen-2015 | Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni | |
Low Frequency Noise and Failure Mechanisms in Microelectronic Devices | 1-gen-1999 | Basso, Giovanni; C., Ciofi; I., Ciofi; F., Crupi; V., Dattilo; Iannaccone, Giuseppe; S., Lombardo; Neri, Bruno | |
Measurement Techniques of Shot Noise in Nanostructures | 1-gen-2003 | Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo | |
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements | 1-gen-2007 | Fiori, Gianluca; Guidi, L; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Maione, I; Pellegrini, Bruno | |
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements | 1-gen-2007 | Fiori, Gianluca; L., Guidi; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; I. A., Maione; B., Pellegrini | |
Model for the 1/f noise behavior of graphene | 1-gen-2016 | Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni |