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BASSO, GIOVANNI Statistiche

BASSO, GIOVANNI  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
2010 14th International Workshop on Computational Electronics 1-gen-2010 Macucci, Massimo; Basso, Giovanni
A detailed Analysis of the Pre-Breakdown Current Fluctuations in Thin Oxide MOS Capacitors 1-gen-1999 Neri, Bruno; Crupi, F.; Basso, Giovanni; Lombardo, S.
A Novel Characterization Tool for the Study of Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Oxide MOS Structures 1-gen-1999 Basso, Giovanni; Crupi, F.; Giannetti, R.; Lombardo, S.; Neri, Bruno
All-2D Material Inkjet-Printed Capacitors: Toward Fully Printed Integrated Circuits 1-gen-2018 Worsley, Robyn; Pimpolari, Lorenzo; Mcmanus, Daryl; Ge, Ning; Ionescu, Robert; Wittkopf, Jarrid A; Alieva, Adriana; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo; Iannaccone, Giuseppe; Novoselov, Kostya S; Holder, Helen; Fiori, Gianluca; Casiraghi, Cinzia
Carrier density dependence of 1/f noise in graphene explained as a result of the interplay between band-structure and inhomogeneities 1-gen-2016 Pellegrini, B.; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni
Characterization and diagnostics of VLSI microstructures 1-gen-1989 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Basso, Giovanni; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; Macucci, Massimo; M., Mule'; Neri, Bruno; B., Pellegrini; Saletti, Roberto
Concurrent effects of Pauli and Coulomb interaction in resonant tunneling diodes at low bias and low temperature 1-gen-2003 Iannaccone, Giuseppe; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
Effect of potential fluctuations on shot noise suppression in mesoscopic cavities 1-gen-2013 Marconcini, Paolo; M., Totaro; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
Elettronica di Millman 1-gen-2008 Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto
Elettronica di Millman 3ed 1-gen-2005 Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto
Flicker noise in graphene-based Hall sensors 1-gen-2017 Porciatti, A.; Wangt, Z.; Marconcini, P.; Pennelli, G.; Basso, G.; Neumaier, D.; Macucci, M.
Fondamenti di elettronica 1-gen-2001 Basso, Giovanni; Neri, Bruno; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo
Improvement of the accuracy of noise measurements by the two-amplifier correlation method 1-gen-2013 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Fiori, Gianluca; Macucci, Massimo; I. A., Maione; Marconcini, Paolo
Inkjet-printed graphene Hall mobility measurements and low-frequency noise characterization 1-gen-2020 Calabrese, G.; Pimpolari, L.; Conti, S.; Mavier, F.; Majee, S.; Worsley, R.; Wang, Z.; Pieri, F.; Basso, G.; Pennelli, G.; Parvez, K.; Brooks, D.; Macucci, M.; Iannaccone, G.; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.; Fiori, G.
Is the peculiar behavior of 1/f noise in graphene the result of the interplay between band-structure and inhomogeneities? 1-gen-2015 Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni
Low Frequency Noise and Failure Mechanisms in Microelectronic Devices 1-gen-1999 Basso, Giovanni; C., Ciofi; I., Ciofi; F., Crupi; V., Dattilo; Iannaccone, Giuseppe; S., Lombardo; Neri, Bruno
Measurement Techniques of Shot Noise in Nanostructures 1-gen-2003 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements 1-gen-2007 Fiori, Gianluca; Guidi, L; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Maione, I; Pellegrini, Bruno
MESFET cryogenic front-end for cross-correlation noise measurements 1-gen-2007 Fiori, Gianluca; L., Guidi; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; I. A., Maione; B., Pellegrini
Model for the 1/f noise behavior of graphene 1-gen-2016 Pellegrini, Bruno; Marconcini, Paolo; Macucci, Massimo; Fiori, Gianluca; Basso, Giovanni