Characterization and diagnostics of VLSI microstructures / Bagnoli, PAOLO EMILIO; Basso, Giovanni; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; Macucci, Massimo; M., Mule'; Neri, Bruno; B., Pellegrini; Saletti, Roberto. - (1989), p. 71. ((Intervento presentato al convegno Convegno Nazionale Progetto Finalizzato MADESS, tema Affidabilità e diagnostica.
Titolo: | Characterization and diagnostics of VLSI microstructures |
Autori interni: | |
Anno del prodotto: | 1989 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11568/16036 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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