EnglishCharacterization and diagnostics of VLSI microstructures / Bagnoli P; G.Basso; C.Ciofi; A.Diligenti; M.Macucci; M.Mule'; B.Neri; B. Pellegrini; R.Saletti. - (1989), p. 71. ((Intervento presentato al convegno Convegno Nazionale Progetto Finalizzato MADESS, tema Affidabilità e diagnostica.
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http://hdl.handle.net/11568/16036| Titolo: | Characterization and diagnostics of VLSI microstructures |
| Autori interni: | BAGNOLI, PAOLO EMILIO BASSO, GIOVANNI CIOFI, CARMINE DILIGENTI, ALESSANDRO MACUCCI, MASSIMO NERI, BRUNO SALETTI, ROBERTO |
| Anno del prodotto: | 1989 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11568/16036 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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