1/F-GAMMA NOISE IN THICK-FILM RESISTORS AS AN EFFECT OF TUNNEL AND THERMALLY ACTIVATED EMISSIONS, FROM MEASURES VERSUS FREQUENCY AND TEMPERATURE

PELLEGRINI, BRUNO;SALETTI, ROBERTO;TERRENI, PIERANGELO;
1983-01-01

1983
Pellegrini, Bruno; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo; Prudenziati, M.
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