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Esercizi di fisica dei materiali per l'elettronica 1-gen-1990 Bagnoli, PAOLO EMILIO
Identificaton of Silicon Nitride / InGaAs interface states 1-gen-1990 A., Piccirillo; A. L., Gobbi; M., Ferraris; R., Giannetti; Bagnoli, PAOLO EMILIO
ANALYSIS OF THE INFLUENCE OF SPATIALLY LOCALIZED OXIDE TRAPS ON THE CAPACITANCE OF MIS TUNNEL-DIODES 1-gen-1990 Nannini, Andrea; Bagnoli, PAOLO EMILIO
Photoluminescence investigation of III-V semiconductor surface damage induced by PECVD silicon nitride films 1-gen-1991 A., Piccirillo; R., Marzano; A. L., Gobbi; Bagnoli, PAOLO EMILIO
Effective acceptor profiles in chemically and plasma treated WNx/GaAs Shannon contacts from capacitance and current measurements 1-gen-1991 Bagnoli, PAOLO EMILIO; A., Paccagnella; A., Callegari
Alkaline ion sensitivity of insulator/silicon structures with glass membrane prepared by sol-gel technique 1-gen-1991 Bagnoli, PAOLO EMILIO; M., Guglielmi; P., Colombo
Electrical characteristics of Silicon Nitride-InGaAs and Silicon Nitride-Si interfaces as a function of the insulator stoichiometry 1-gen-1991 Bagnoli, PAOLO EMILIO; A., Piccirillo; A. L., Gobbi; R., Giannetti
Silicon Nitride-semiconductor interface state density as a function of the insulator stoichiometry 1-gen-1992 Bagnoli, PAOLO EMILIO; A., Piccirillo; P., Valenti; G., Civale; A. L., Gobbi
Caratterizzazione del modello termico di strutture laser a semiconduttore per mezzo di misure di tensione in regime transitorio. 1-gen-1992 Bagnoli, PAOLO EMILIO; A., Piccirillo; Ciampa, Maurizio; G., Oliveti
Experimental analysis of laser diode thermal characteristics by voltage transient measurements 1-gen-1993 Bagnoli, PAOLO EMILIO; A., Piccirillo; S., Mottet; M., Thual; G., Oliveti; Ciampa, Maurizio
Complete characterisation of laser diode thermal circuit by voltage transient measurements 1-gen-1993 A., Piccirillo; G., Oliveti; Ciampa, Maurizio; Bagnoli, PAOLO EMILIO
Electromigration in Al based stripes: low frequency noise and MTF test 1-gen-1994 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Ciofi, Carmine; Neri, Bruno; Pennelli, Giovanni
Applicazione del metodo TRAIT (Thermal Resistance Analysis by Induced Transient) a strutture simulate 1-gen-1994 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Casarosa, Claudio; M., Ciampi; E., Dallago; M., Sassone
Experimental Characterisation of Automotive Electronic Packaging by TRAIT Method: preliminary results. 1-gen-1994 M., Bezza; A., Maierna; Bagnoli, PAOLO EMILIO; Casarosa, Claudio; E., Dallago; F., Perotti
TRAIT : Thermal Resistance Analysis by Induced Transient in electronic packaging 1-gen-1994 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Casarosa, Claudio; E., Dallago; F., Perotti; M., Bezza; A., Maierna
IL METODO TRAIT PER LA CARATTERIZZAZIONE TERMICA DI COMPONENTI DI POTENZA IN APPLICAZIONI AUTOMOBILISTICHE 1-gen-1995 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Casarosa, Claudio; E., Dallago; G., Sassone; A., Maierna; F., Mori
Analysis of laser diode thermal properties with spatial resolution by means of the TRAIT method 1-gen-1995 Bagnoli, PAOLO EMILIO; G., Oliveti; A., Piccirillo
Il metodo TRAIT per la caratterizzazione termica di componenti di potenza in applicazioni automobilistiche 1-gen-1995 A., Maierna; F., Mori; Bagnoli, PAOLO EMILIO; Casarosa, Claudio; E., Dallago; G., Sassone
Characterization of YSZ Films by means of C-V Measurements and TEM Observations 1-gen-1995 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; A., Innamorato; Nannini, Andrea
Electromigration in Al based stripes: Low frequency noise measurements and MTF tests 1-gen-1996 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Ciofi, Carmine; Neri, Bruno; Pennelli, Giovanni
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