CIOFI, CARMINE
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 330
AS - Asia 125
EU - Europa 112
SA - Sud America 22
AF - Africa 15
OC - Oceania 1
Totale 605
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 321
IT - Italia 45
SG - Singapore 38
CN - Cina 35
HK - Hong Kong 21
SE - Svezia 21
BR - Brasile 19
TR - Turchia 15
BG - Bulgaria 10
DE - Germania 8
GB - Regno Unito 8
CA - Canada 7
FR - Francia 6
CI - Costa d'Avorio 5
SN - Senegal 5
VN - Vietnam 5
FI - Finlandia 4
RU - Federazione Russa 4
UA - Ucraina 4
JP - Giappone 3
SA - Arabia Saudita 3
ZA - Sudafrica 3
IN - India 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
BD - Bangladesh 1
CH - Svizzera 1
CL - Cile 1
HU - Ungheria 1
IQ - Iraq 1
JM - Giamaica 1
LB - Libano 1
LY - Libia 1
MA - Marocco 1
MX - Messico 1
VE - Venezuela 1
Totale 605
Città #
Woodbridge 37
Fairfield 33
Ashburn 29
Chandler 27
Hong Kong 21
Milan 20
Santa Clara 20
Dallas 19
Singapore 19
Ann Arbor 18
San Jose 18
Wilmington 15
Izmir 13
Seattle 13
Houston 12
Serra 10
Sofia 10
Beijing 8
Cambridge 8
Jacksonville 7
New York 6
Ottawa 6
Shanghai 6
Abidjan 5
Dakar 5
Nanjing 5
Boardman 4
Dearborn 4
Lauterbourg 4
Lawrence 4
Medford 4
Princeton 4
Boulder 3
Guangzhou 3
Los Angeles 3
Tokyo 3
Bremen 2
Buffalo 2
Council Bluffs 2
Dong Ket 2
Enterprise 2
Frankfurt am Main 2
Istanbul 2
London 2
Marseille 2
Orem 2
Paola 2
Riyadh 2
Secaucus 2
Acarigua 1
Aracaju 1
Basra 1
Benito Juárez 1
Bern 1
Cassina de' Pecchi 1
Chicago 1
Chittagong 1
Cleveland 1
Columbus 1
Concón 1
Curitiba 1
Des Moines 1
Edinburgh 1
Farroupilha 1
Florence 1
Garanhuns 1
Germiston 1
Grabouw 1
Greensboro 1
Guarulhos 1
Hangzhou 1
Hanoi 1
Hebei 1
Ho Chi Minh City 1
Ibiá 1
Itamogi 1
Jeddah 1
Jundiaí 1
Jüchen 1
Kempton Park 1
Kunming 1
Liverpool 1
Livorno 1
Marrakesh 1
Melbourne 1
Montreal 1
Nanchang 1
Noida 1
Ogden 1
Olinda 1
Pedro Leopoldo 1
Pistoia 1
Ponta Grossa 1
Ponte 1
Praia Grande 1
Presidente Prudente 1
Pune 1
Redondo Beach 1
Redwood City 1
Ribeirão Preto 1
Totale 503
Nome #
A new measurement method of MOS transistor parameters 180
Characterization of YSZ Films by means of C-V Measurements and TEM Observations 158
Noise and Fluctuations in Circuits, Devices, and Materials 145
Thin films of granular silicon: Electrical, structural and optical characterization 126
Totale 609
Categoria #
all - tutte 1.732
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book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.732


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/20215 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 4
2021/202242 1 1 2 0 8 7 0 1 3 2 1 16
2022/202375 9 14 6 7 2 11 0 5 18 0 3 0
2023/202447 6 8 5 4 6 8 4 1 1 1 0 3
2024/2025120 0 5 0 6 14 11 8 9 9 15 6 37
2025/202698 2 19 16 1 7 15 14 6 4 11 3 0
Totale 609