CIOFI, CARMINE
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 309
AS - Asia 113
EU - Europa 107
SA - Sud America 22
AF - Africa 15
OC - Oceania 1
Totale 567
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 300
IT - Italia 45
SG - Singapore 36
CN - Cina 30
HK - Hong Kong 21
SE - Svezia 21
BR - Brasile 19
TR - Turchia 15
BG - Bulgaria 10
DE - Germania 8
GB - Regno Unito 8
CA - Canada 7
CI - Costa d'Avorio 5
SN - Senegal 5
FI - Finlandia 4
RU - Federazione Russa 4
UA - Ucraina 4
SA - Arabia Saudita 3
VN - Vietnam 3
ZA - Sudafrica 3
FR - Francia 2
IN - India 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
CH - Svizzera 1
CL - Cile 1
IQ - Iraq 1
JM - Giamaica 1
JP - Giappone 1
LB - Libano 1
LY - Libia 1
MA - Marocco 1
MX - Messico 1
VE - Venezuela 1
Totale 567
Città #
Woodbridge 37
Fairfield 33
Ashburn 27
Chandler 27
Hong Kong 21
Milan 20
Santa Clara 20
Dallas 19
Ann Arbor 18
Singapore 17
Wilmington 15
Izmir 13
Seattle 13
Houston 12
Serra 10
Sofia 10
Beijing 8
Cambridge 8
Jacksonville 7
New York 6
Ottawa 6
Shanghai 6
Abidjan 5
Dakar 5
Nanjing 5
Boardman 4
Dearborn 4
Lawrence 4
Medford 4
Princeton 4
Boulder 3
Los Angeles 3
Bremen 2
Buffalo 2
Council Bluffs 2
Dong Ket 2
Enterprise 2
Frankfurt am Main 2
Istanbul 2
London 2
Marseille 2
Paola 2
Riyadh 2
Secaucus 2
Acarigua 1
Aracaju 1
Basra 1
Benito Juárez 1
Bern 1
Cassina de' Pecchi 1
Chicago 1
Cleveland 1
Columbus 1
Concón 1
Curitiba 1
Des Moines 1
Edinburgh 1
Farroupilha 1
Florence 1
Garanhuns 1
Germiston 1
Grabouw 1
Greensboro 1
Guangzhou 1
Guarulhos 1
Hangzhou 1
Hebei 1
Ibiá 1
Itamogi 1
Jeddah 1
Jundiaí 1
Jüchen 1
Kempton Park 1
Kunming 1
Liverpool 1
Livorno 1
Marrakesh 1
Melbourne 1
Montreal 1
Nanchang 1
Noida 1
Ogden 1
Olinda 1
Pedro Leopoldo 1
Pistoia 1
Ponta Grossa 1
Ponte 1
Praia Grande 1
Presidente Prudente 1
Pune 1
Redondo Beach 1
Redwood City 1
Ribeirão Preto 1
Salt Lake City 1
Salvador 1
San Jose 1
San Luis 1
Sidon 1
Southwark 1
São Leopoldo 1
Totale 474
Nome #
A new measurement method of MOS transistor parameters 175
Characterization of YSZ Films by means of C-V Measurements and TEM Observations 149
Noise and Fluctuations in Circuits, Devices, and Materials 135
Thin films of granular silicon: Electrical, structural and optical characterization 112
Totale 571
Categoria #
all - tutte 1.628
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book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.628


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/202113 0 0 0 0 0 0 2 3 2 1 1 4
2021/202242 1 1 2 0 8 7 0 1 3 2 1 16
2022/202375 9 14 6 7 2 11 0 5 18 0 3 0
2023/202447 6 8 5 4 6 8 4 1 1 1 0 3
2024/2025120 0 5 0 6 14 11 8 9 9 15 6 37
2025/202660 2 19 16 1 7 15 0 0 0 0 0 0
Totale 571