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Characterization and diagnostics of VLSI microstructures 1-gen-1989 Bagnoli, PAOLO EMILIO; Basso, Giovanni; Ciofi, Carmine; Diligenti, Alessandro; Macucci, Massimo; M., Mule'; Neri, Bruno; B., Pellegrini; Saletti, Roberto
Very long current transients in reverse-biased almost ideal n/sup +/-p junctions 1-gen-1989 Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno; Polignano, Ml; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo
Spectrometry of very long-current transients in almost ideal silicon p-n junctions 1-gen-1993 Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno; Polignano, Ml
Photocurrent transients in almost ideal silicon p-n junctions 1-gen-1995 Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
Ultralow-noise programmable voltage source 1-gen-1997 Baracchino, L; Basso, Giovanni; Ciofi, C; Neri, Bruno
Noise in Almost Ideal n+-p Junctions 1-gen-1997 Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
PC Based Low Noise Measurement System for the Chacterization of Ultra Thin Oxide MOS Devices 1-gen-1998 Basso, Giovanni; Ciuti, V; Crupi, F; Giannetti, R; Neri, Bruno
Low Frequency Noise and Failure Mechanisms in Microelectronic Devices 1-gen-1999 Basso, Giovanni; C., Ciofi; I., Ciofi; F., Crupi; V., Dattilo; Iannaccone, Giuseppe; S., Lombardo; Neri, Bruno
Novel characterization tool for the study of dielectric breakdown of ultra-thin oxide MOS structures 1-gen-1999 Basso, Giovanni; Crupi, Felice; Neri, Bruno; Giannetti, Romano; Lombardo, Salvo
A Novel Characterization Tool for the Study of Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Oxide MOS Structures 1-gen-1999 Basso, Giovanni; Crupi, F.; Giannetti, R.; Lombardo, S.; Neri, Bruno
A detailed Analysis of the Pre-Breakdown Current Fluctuations in Thin Oxide MOS Capacitors 1-gen-1999 Neri, Bruno; Crupi, F.; Basso, Giovanni; Lombardo, S.
Ultra Low-Noise Cryogenic Amplifier for Shot Noise Measurements 1-gen-2001 Basso, Giovanni; M., Casarin; Macucci, Massimo; B., Pellegrini
Fondamenti di elettronica 1-gen-2001 Basso, Giovanni; Neri, Bruno; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto; Terreni, Pierangelo
Concurrent effects of Pauli and Coulomb interaction in resonant tunneling diodes at low bias and low temperature 1-gen-2003 Iannaccone, Giuseppe; Macucci, Massimo; Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
Measurement Techniques of Shot Noise in Nanostructures 1-gen-2003 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
Numerical investigation of shot-noise suppression in diffusive conductors 1-gen-2003 Macucci, Massimo; Iannaccone, Giuseppe; Basso, Giovanni; Pellegrini, Bruno
Shot Noise in Mesoscopic Devices and Quantum Dot Networks 1-gen-2004 Macucci, M.; Marconcini, P.; Iannaccone, G.; Gattobigio, M.; Basso, G.; Pellegrini, B.
Techniques for high-sensitivity measurements of shot noise in nanostructures 1-gen-2004 Pellegrini, Bruno; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo
Elettronica di Millman 3ed 1-gen-2005 Basso, Giovanni; Roncella, Roberto; Saletti, Roberto
Transition between Pauli Exclusion and Coulomb Interaction in the Noise Behavior of Resonant Tunneling Diodes 1-gen-2005 I. A., Maione; Basso, Giovanni; Macucci, Massimo; Iannaccone, Giuseppe; Pellegrini, Bruno
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